1. Mazumder P., Chakraborty K. Testing and Testable Design of High-Density Random-Access Memories. - Chichester: Addison-Wesley, 1997. - 448 p.
2. Marinescu M. Simple and Efficient Algorithms for Functional RAM Testing // IEEE International Test Conference: Proc. IEEE Computer Society. - Philadelphia, PA, USA, 1982. - P. 236-239.
3. Занкович А.П., Ярмолик В.Н. Неразрушающее тестирование ОЗУ на основе анализа симметрии выходных данных // Автоматика и телемеханика. - 2003. - № 9. - С. 141-154.
4. Zankovich A.P., Yarmolik V.N. Aliasing minimization of transparent memory testing // Новые информационные технологии = New Information Technologies: Мат. V Междунар. науч. конф., Минск, 29-30 октября 2002 г.: В 2 т. - Минск, 2002. - Т. 1. - С. 71-76.
5. Nicolaidis M. Transparent BIST for RAMs // IEEE International Test Conference: Proc. - Baltimore, Maryland, USA, 1992. - P. 596-607.
6. Hellebrand S., Wundelich H.-J., Yarmolik V.N. Symmetric Transparent BIST for RAMs // IEEE Design Automation and Test in Europe Conference (DATE'99): Proc. - Munich, Germany, 1999. - P. 702-707.
7. Бибило П.Н. Основы языка VHDL: 2-е изд. - М.: Солон-Р, 2002. - 224 c.
8. Zoriah Y., Dey S., Rodgers M. Test of Future System-on Chip // IEEE International Test Conference: Proc. - Atlantic City, NJ, USA, 2000. - P. 392-398.
9. Industrial BIST for Embedded RAMs / P. Camurati, P. Prinetto, M.S. Reorda et al. // IEEE Design and Test of Computers. - 1995. - Vol. 12. - № 3. - P. 86-95.
10. Saluja K.K., Sng S.H., Kinoshita K. Built-In Self-Test RAM: A practical alternative // IEEE Design and Test of Computer. - 1987. - Vol. 4. - № 1. - P. 42-51.
11. A Programmable BIST Core For Embedded DRAM / C.-T. Huang, J.-R. Huang, C.-F. Wu et al. // IEEE Design and Test of Computers. - Vol. 16. - № 1. - 1999. - P. 59-70.
12. Zarrineh K., Upadhyaya S.J. On Programmable Memory BuiltIn Self Test Architectures // IEEE Design Automation and Test in Europe Conference (DATE'99): Proc. - Munich, Germany, 1999. - P. 708-713.
Послать статью по эл. почте 