1. An Orchestrated Survey on Automated Software Test Case Generation / S. Anand [et al.] // Journal of Systems and Software. - 2014. - Vol. C-39, № 4. - P. 582-586.
2. Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // Proc. of ITC. - Philadelphia, 1984. - P. 237-242.
3. Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. - 2012. - № 10. - C. 142-155.
4. Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. - 2013. - № 3(39). - С. 92-103.
5. Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Trans. on Reliability.− 2007. - Vol. 56, № 3. - P. 562-568.6. Shahbazi, A. Centroidal Voronoi Tessellation - a New Approach to Random Testing / A. Shahbazi, A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Trans. on Soft. Eng. - 2013. - Vol. 39, № 2. - P. 163-183.
6. Antirandom Testing: A Distance-Based Approach / S.H. Wu [et al.] // VLSI Design. - 2008.- № 2. - P. 1−9.
7. Fast Antirandom (FAR) Test Generation /A. Mayrhause [et al.] // Proc. Third IEEE Intern. High-Assurance System Eng. Symp. - Boulder, 1998. − P. 262−269.
8. Zhou, Z.Q. Using Coverage Information to Guide Test Case Selection in Adaptive Random Testing // Proc. 34th IEEE Comp. Soft and Applications Conf. - Seoul, 2010. - P. 208−213.
9. Chan, K.P. Good Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey // Proc. 9th Ada- Europe Intern. Conf. on Reliable Software Technologies (LNCS). - York, 2004. − P. 200−212.
10. Kuo, F.C. An in-depth study of mirror adaptive random testing // Proc. 14th European Conf. on Soft Quality. - Los Alamitos, 2009. − P. 51−58.
11. Shiyi, Xu. Orderly Random Testing for Both Hardware and Software / Xu. Shiyi // Proc. Pacific Rim Intern. Symp. on Dependable Computing. - Shanghai, 2008. − P. 160−167.
12. Tappenden, A.F. A Novel Evolutionary Approach for Adaptive Random Testing / A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Trans. on Reliability. − 2009. − Vol. 58, № 4. − P. 619−632.
13. Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. - 2011. - № 1(29). - С. 79-88.
14. Ярмолик, C.В. Итеративные почти псевдоисчерпывающие вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. - 2010. - № 2(26). - С. 66-75.
15. Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V.N. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). - 2012. - Vol. 9, № 3. - P. 251-266.
16. Das, D. Exhaustive and Near-Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. - Vol. 10. - P. 215−229.
17. Segall, I. Using binary decision diagrams for combinatorial test design / I. Segall, R. Tzoref- Brill, E. Farchi // Proc. of the Intern. Symp. Software Testing and Analysis (ISSTA’11). - NY, 2011. − P. 254-264.
18. Ярмолик, С.В. Синтез вероятностных тестов с малым числом наборов / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и вычислительная техника. - 2011. - № 3. - С. 19-30.
19. Ярмолик, С.В. Обнаружение кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств с многократным использованием маршевых тестов / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. - 2006. - № 1(9). - С. 104-129.
20. Ярмолик, C.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. - 2007. - № 4. - С. 126-137.
21. Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. - М. : Знание, 1985. - 32 с.
22. Ярмолик, В.Н. Генерирование модифицированных последовательностей Соболя для многократных маршевых тестов ОЗУ / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик //Автоматика и вычислительная техника. - 2013. - № 5. - С. 25-33.
23. Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. - Минск : Издательский центр БГУ, 2009. - 270 с.
Послать статью по эл. почте 