informИнформатикаInformatics1816-03012617-6963UIIP NASBinform-21Research ArticleАВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯCOMPUTER AIDED DESIGNМНОГОКРАТНЫЕ УПРАВЛЯЕМЫЕ ВЕРОЯТНОСТНЫЕ ТЕСТЫMULTIPLE CONTROLLED RANDOM TESTSЯрмоликВ. Н.YarmolikV. N.yarmolik10ru@yahoo.comЛеванцевичВ. А.LevantsevichВ. А.lvn@bsuir.byМрозекИ.MrozekI.i.mrozek@pb.edu.plБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarusБелостокский технический университетPoland201527092016026376Copyright © Ярмолик В.Н., Леванцевич В.А., Мрозек И., 20162016Ярмолик В.Н., Леванцевич В.А., Мрозек И.Yarmolik V.N., Levantsevich В.А., Mrozek I.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://inf.grid.by/jour/article/view/21

Рассматриваются однократные управляемые вероятностные тесты, методы их формирования, а также их применение для тестирования средств вычислительных систем. Показываются основные недостатки построения однократных вероятностных тестов. Предлагается метод построения многократных управляемых вероятностных тестов на базе исходного однократного теста. Анализируются различные численные метрики для построения как однократных, так и многократных управляемых вероятностных тестов.

Controlled Random Tests and methods for their generation have been analyzed and investigated. The similarities of all known controlled random testing approaches are shown. A new method and algorithm for Multiple Controlled Random Tests have been proposed and analyzed.

ReferencesAn Orchestrated Survey on Automated Software Test Case Generation / S. Anand [et al.] // Journal of Systems and Software. – 2014. – Vol. C-39, № 4. – P. 582–586.An Orchestrated Survey on Automated Software Test Case Generation / S. Anand [et al.] // Journal of Systems and Software. – 2014. – Vol. C-39, № 4. – P. 582–586.Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // Proc. of ITC. – Philadelphia, 1984. – P. 237–242.Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // Proc. of ITC. – Philadelphia, 1984. – P. 237–242.Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2012. – № 10. – C. 142–155.Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2012. – № 10. – C. 142–155.Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3(39). – С. 92–103.Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3(39). – С. 92–103.Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Trans. on Reliability.− 2007. – Vol. 56, № 3. – P. 562–568.6. Shahbazi, A. Centroidal Voronoi Tessellation – a New Approach to Random Testing / A. Shahbazi, A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Trans. on Soft. Eng. – 2013. – Vol. 39, № 2. – P. 163–183.Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Trans. on Reliability.− 2007. – Vol. 56, № 3. – P. 562–568.6. Shahbazi, A. Centroidal Voronoi Tessellation – a New Approach to Random Testing / A. Shahbazi, A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Trans. on Soft. Eng. – 2013. – Vol. 39, № 2. – P. 163–183.Antirandom Testing: A Distance-Based Approach / S.H. Wu [et al.] // VLSI Design. – 2008.– № 2. – P. 1−9.Antirandom Testing: A Distance-Based Approach / S.H. Wu [et al.] // VLSI Design. – 2008.– № 2. – P. 1−9.Fast Antirandom (FAR) Test Generation /A. Mayrhause [et al.] // Proc. Third IEEE Intern. High-Assurance System Eng. Symp. – Boulder, 1998. − P. 262−269.Fast Antirandom (FAR) Test Generation /A. Mayrhause [et al.] // Proc. Third IEEE Intern. High-Assurance System Eng. Symp. – Boulder, 1998. − P. 262−269.Zhou, Z.Q. Using Coverage Information to Guide Test Case Selection in Adaptive Random Testing // Proc. 34th IEEE Comp. Soft and Applications Conf. – Seoul, 2010. – P. 208−213.Zhou, Z.Q. Using Coverage Information to Guide Test Case Selection in Adaptive Random Testing // Proc. 34th IEEE Comp. Soft and Applications Conf. – Seoul, 2010. – P. 208−213.Chan, K.P. Good Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey // Proc. 9th Ada- Europe Intern. Conf. on Reliable Software Technologies (LNCS). – York, 2004. − P. 200−212.Chan, K.P. Good Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey // Proc. 9th Ada- Europe Intern. Conf. on Reliable Software Technologies (LNCS). – York, 2004. − P. 200−212.Kuo, F.C. An in-depth study of mirror adaptive random testing // Proc. 14th European Conf. on Soft Quality. – Los Alamitos, 2009. − P. 51−58.Kuo, F.C. An in-depth study of mirror adaptive random testing // Proc. 14th European Conf. on Soft Quality. – Los Alamitos, 2009. − P. 51−58.Shiyi, Xu. Orderly Random Testing for Both Hardware and Software / Xu. Shiyi // Proc. Pacific Rim Intern. Symp. on Dependable Computing. – Shanghai, 2008. − P. 160−167.Shiyi, Xu. Orderly Random Testing for Both Hardware and Software / Xu. Shiyi // Proc. Pacific Rim Intern. Symp. on Dependable Computing. – Shanghai, 2008. − P. 160−167.Tappenden, A.F. A Novel Evolutionary Approach for Adaptive Random Testing / A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Trans. on Reliability. − 2009. − Vol. 58, № 4. − P. 619−632.Tappenden, A.F. A Novel Evolutionary Approach for Adaptive Random Testing / A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Trans. on Reliability. − 2009. − Vol. 58, № 4. − P. 619−632.Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2011. – № 1(29). – С. 79–88.Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2011. – № 1(29). – С. 79–88.Ярмолик, C.В. Итеративные почти псевдоисчерпывающие вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2010. – № 2(26). – С. 66–75.Ярмолик, C.В. Итеративные почти псевдоисчерпывающие вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2010. – № 2(26). – С. 66–75.Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V.N. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, № 3. – P. 251–266.Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V.N. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, № 3. – P. 251–266.Das, D. Exhaustive and Near-Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. – Vol. 10. – P. 215−229.Das, D. Exhaustive and Near-Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. – Vol. 10. – P. 215−229.Segall, I. Using binary decision diagrams for combinatorial test design / I. Segall, R. Tzoref- Brill, E. Farchi // Proc. of the Intern. Symp. Software Testing and Analysis (ISSTA’11). – NY, 2011. − P. 254–264.Segall, I. Using binary decision diagrams for combinatorial test design / I. Segall, R. Tzoref- Brill, E. Farchi // Proc. of the Intern. Symp. Software Testing and Analysis (ISSTA’11). – NY, 2011. − P. 254–264.Ярмолик, С.В. Синтез вероятностных тестов с малым числом наборов / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и вычислительная техника. – 2011. – № 3. – С. 19–30.Ярмолик, С.В. Синтез вероятностных тестов с малым числом наборов / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и вычислительная техника. – 2011. – № 3. – С. 19–30.Ярмолик, С.В. Обнаружение кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств с многократным использованием маршевых тестов / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2006. – № 1(9). – С. 104–129.Ярмолик, С.В. Обнаружение кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств с многократным использованием маршевых тестов / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2006. – № 1(9). – С. 104–129.Ярмолик, C.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007. – № 4. – С. 126–137.Ярмолик, C.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007. – № 4. – С. 126–137.Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. – М. : Знание, 1985. – 32 с.Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. – М. : Знание, 1985. – 32 с.Ярмолик, В.Н. Генерирование модифицированных последовательностей Соболя для многократных маршевых тестов ОЗУ / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик //Автоматика и вычислительная техника. – 2013. – № 5. – С. 25–33.Ярмолик, В.Н. Генерирование модифицированных последовательностей Соболя для многократных маршевых тестов ОЗУ / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик //Автоматика и вычислительная техника. – 2013. – № 5. – С. 25–33.Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. – Минск : Издательский центр БГУ, 2009. – 270 с.Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. – Минск : Издательский центр БГУ, 2009. – 270 с.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.