Для цитирования:

Ярмолик В.Н., Мрозек И., Леванцевич В.А., Деменковец Д.В. Неразрушающие тесты с четным повторением адресов для запоминающих устройств. Информатика. 2021;18(3):18-35. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-3-18-35

For citation:

Yarmolik V.N., Mrozek I.M., Levantsevich V.A., Demenkovets D.V. Transparent memory tests with even repeating addresses for storage devices. Informatics. 2021;18(3):18-35. (In Russ.) https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-3-18-35