Preview

Информатика

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Ярмолик В.Н., Мрозек И., Леванцевич В.А., Деменковец Д.В. Неразрушающие тесты с четным повторением адресов для запоминающих устройств. Информатика. 2021;18(3):18-35. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-3-18-35

For citation:


Yarmolik V.N., Mrozek I.M., Levantsevich V.A., Demenkovets D.V. Transparent memory tests with even repeating addresses for storage devices. Informatics. 2021;18(3):18-35. (In Russ.) https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-3-18-35

Просмотров: 32


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)