Preview

Информатика

Расширенный поиск

КВАЗИСЛУЧАЙНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ

Полный текст:

Аннотация

Анализируются причинно-следственные связи при возникновении неисправностей вычисли-тельных систем. Даются определения понятий «неисправность», «ошибка» и «неисправное поведение вычислительных систем», показывается их общность для программной и аппаратной частей вычислительных систем. Рассматривается классификация обобщенных входных тестовых воздей-ствий на три категории: точечные тестовые наборы, узкополосные тестовые наборы и блочные тестовые наборы. Приводится анализ методов тестирования вычислительных систем по методике черного ящика, показывается эффективность использования квазислучайного тестирования. Анали-зируются и предлагаются методы формирования квазислучайных тестовых воздействий.

Об авторах

С. В. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Россия


В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Россия


Список литературы

1. Rajsuman, R. System-On-A-Chip: Design and Test / R. Rajsuman. – London : Artech House Publishers, 2000. – 303 p.

2. Иванюк, А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем /А.А. Иванюк. – Минск : Бестпринт, 2012. – 338 с.

3. Semiconductor Intellectual Property: Continuing on the Path to Grow. ASIC IP report / Semiconductor Research Corp. Research Triangle Park. – NC, USA, 2007. – 100 p.

4. Harris, I.G. Hardware-Software Co-validation: Fault Models and Test Generation /I.G. Harris // IEEE Design & Test of Computers. – 2003. – Vol. 20, № 1. – P. 40–47.

5. Hamill, M. Common Trends in Software Fault and Failure Data / M. Hamill, K. GosevaPopstojanova // IEEE Transaction on Software Engineering. – 2009. – Vol. 35, № 4. – P. 484–496.

6. Comparative Analysis of Hardware and Software Fault Tolerance: Impact on Software Reliability Engineering / H. Ammar [et al.] // Institute for Software Research Fairmont, WV 26554 USA

7. [Electronic resourse] January 15, 1999. – Mode of access : www.isr.wvu.edu. – Date of access :12.07.2012.

8. Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. – Минск : Изд. центр БГУ, 2009. – 270 с.

9. White, L. A domain strategy for computer program testing / L. White, E. Cohen // IEEE Transaction on Software Engineering. – 1980. – Vol. SE–6, № 3. – P. 247–257.

10. Schnekenburger, C. Towards the determination of typical failure patterns / C. Schnekenburger,J. Mayer // In Proc. of Fourth Intern. Workshop on Software Quality Assurance: in conjunction with the 6th ESE/FSE joint meeting, ser. SOQUA’07. – N.Y., USA : ACM, 2007. – P. 90–93.

11. Proportional sampling strategy guidelines for software testing practitioner / F.T. Chan [et al.] // Information and Software Technology – 1996. – Vol. 38, № 12. – P. 775–782.

12. Shahbazi, A. Centroidal Voronoi Tessellation – a New Approach to Random Testing / A. Shahbazi, A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Transaction on Software Engineering. – 2013. –Vol. 39, № 2. – P. 163–183.

13. Fault Pattern Oriented Defect Diagnosis for Memories / C.W. Wang [et al.] // In Proc. of Intern. Test Conference (ITC 2003). – Charlotte, NC, USA, 2003. – P. 29–38.

14. Using electrical bitmap results from embedded memory to enhance yield / A. Segal [et al.] //IEEE Design & Test of Computers. – 2001. – Vol. 15, № 3. – P. 28–39.

15. Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – UK,Chichester : John Wiley & Sons, 1991. – 536 p.

16. Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self–Testing /Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31,№ 2. – P. 190–194.

17. Furuya, K. A probabilistic approach to locally exhaustive testing / K. Furuya // IEEE Transactions on IEICE. – 1989. – Vol. E72, № 5. – P. 656–660.

18. Testing of embedded RAM using exhaustive random sequence / H. Maeno [et al.] // In Proc. of Intern. Test Conference (ITC 1987). – Washington, D.C., USA, 1987. – P. 105–110.

19. Mrozek, I. Antirandom Test Vector for BIST in Hardware/Software Systems / I. Mrozek,V. Yarmolik // Fundamenta Informaticae. – 2012. – Vol. 119, № 2. – P. 163–185.

20. Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // In Proc. of Intern. Test Conference (ITC 1984). – Philadelphia, PA, USA, 1984. – P. 237–242.

21. Malaiya, Y.K. An examination of fault exposure ratio / Y.K. Malaiya, A. Mayrhauser,P.K. Srimani // IEEE Transactions on Software Engineering. – 1993. – Vol. 19, № 11. – P. 1087–1094.

22. Malaiya, Y.K. Antirandom Testing: Getting the most out of Back-Box Testing / Y.K. Malaiya,S. Yang // In Proc. of Sixth Intern. Symposium on Software Reliability Engineering. – Toulouse,France, 1995. – P. 86–95.

23. Antirandom Testing: A Distance-Based Approach / S.H. Wu [et al.] // VLSI Design. –2008. – № 2. – P. 1–9.

24. Fast Antirandom (FAR) Test Generation / A. Mayrhause [et al.] // In Proc. of the Third IEEE Intern.High-Assurance System Engineering Symposium. – Washington, D.C., USA, 1998. – P. 262–269.

25. Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V.N. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, № 3. – P. 251–266.

26. Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / C.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Информатика. – 2011. – № 1(29). – С. 79–88.

27. Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / C.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Автоматика и телемеханика. – 2012. – № 10. – С. 142–155.

28. Sobol, I.M. Uniformly distributed sequences with an additional uniform property /I.M. Sobol // USSR Comput. Math. Math. Phys. – 1976. – Vol. 16. – P. 236–242.

29. Niederreiter, H. Point sets and sequences with small discrepancy / H. Niederreiter //Monatshefte fur Mathematik. – 1987. – Vol. 104, № 4. – P. 273–337.

30. Halton, J.H. On the efficiency of certain quasi-random sequences of points in evaluatingmulti-dimensional integrals / J.H. Halton // Numerische Mathemati. – 1960. – Vol. 2, № 1. – P. 84–90.

31. Chi, H. Computational investigations of quasi-random sequences in generating test cases for specification-based tests / H. Chi, E.I. Jones // Proc. of the 38th on Winter Conference, ser. WSC’06.Winter Simulation Conference. – Monterey, CA, USA, 2006. – P. 975–980.

32. Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Transaction on Reliability. – 2007. – Vol. 56, № 3. – P. 562–568.

33. Ярмолик, В.Н. Генерирование и применение псевдослучайных сигналов в системах испытаний и контроля / В.Н. Ярмолик, С.Н. Демиденко. – Минск : Наука и техника, 1986. – 200 с.

34. Соболь, И.М. Вычисление несобственных интегралов при помощи равномерно распределенных последовательностей / И.М. Соболь // Доклады АН СССР. – 1973. – Т. 210, № 2. –С. 278–281.

35. Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. –М. : Знание, 1985. – 32 с.

36. Savage, C. A survey of combinatorial Gray code // SIAM Review / C. Savage. – 1997. –Vol. 39, № 4. – P. 605–629.


Для цитирования:


Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. КВАЗИСЛУЧАЙНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ. Информатика. 2013;(3):65-81.

For citation:


Yarmolik S.V., Yarmolik V.N. QUASI-RANDOM TESTING OF COMPUTER SYSTEMS. Informatics. 2013;(3):65-81. (In Russ.)

Просмотров: 309


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)