Preview

Информатика

Расширенный поиск

МОДЕЛИРОВАНИЕ НЕИСПРАВНОСТЕЙ СБИС НА ПОВЕДЕНЧЕСКОМ УРОВНЕ НА ЯЗЫКЕ VHDL

Аннотация

Рассматривается задача моделирования неисправностей блоков комбинационного типа СБИС, представленных на поведенческом уровне на языке VHDL. Предлагается формальный подход к решению задачи, в основе которого лежит построение тестов для разных реализаций операторов языка VHDL на базе применения системы  генерации тестов и моделирования неисправностей. Особенность получаемых функциональных моделей неисправностей состоит в их полном соответствии физическим неисправностям.

Об авторе

Л. А. Золоторевич
Белорусский государственный университет
Беларусь


Список литературы

1. Arlat J., Aguera M., Amat L. Fault injection for dependability validation: a methodology and some applications // IEEE transactions on software engineering. – V. 16. – № 2. – 1990.

2. Karlsson J., Liden P., Dahlgren P. Using heavy-ion radiation to validate fault-handling mechanisms // IEEE Micro. – V. 14. – № 1. – 1994. – P. 8–32.

3. Delong T.A., Johnson B.W., Profeta J.A. A fault injection technique for VHDL behavioral-level models // IEEE Design Test Comput. – V. 13. – 1996. – P. 24–33.

4. Jenn E., Arlat J., Rimen M. Fault injection into VHDL models: The MEFISTO tool // 24th Int. symp. fault-tolerant comput. – June 1994. – P. 66–75.

5. Boué J., Pétilton P., Crouzet Y. MEFISTO-L: A VHDL-based fault injection tool for the experimental assessment of fault tolerance // In 28th FTCS. – June 1998. – P. 168–173.

6. Lörinc Antoni, Régis Leveugle, Béla Fehér. Using run-time reconfiguration for fault injection applications // IEEE Ttransactions on instrumentation and Measurement. – V. 52. – № 5. – 2003.

7. Chakraborty T., Ghosh S. On behavior fault modeling for combinational digital designs // Proc. International test conference, September 1988. – P. 593–600.

8. Ghosh S., Chakraborty T.J. On behavior fault modeling for digital designs // Journal of Electronic Testing. V. 2. – Kluwer Academic Publishers, 1991.

9. Armstrong J.R., Lam F.S., Ward P.C. Test generation and fault simulation for behavioral models // Performance and Fault Modeling with VHDL. Prentice Hall, Englewood Cliffs, NJ, 1992. – P. 240–303.

10. Cho C.H. A formal model for behavioral test generation // Doctoral dissertation. – Vir-ginia Polytechnic Institute and State University. – Department of Electrical Engineering. – Blacksburg, VA. – 1994.

11. Cho C.H., Armstrong J.R. B-algorithm: A behavioral test generation algorithm // Proc. International test conference, 1994. – P. 968–979.

12. Al Hayek G., Robach C. On the adequacy of deriving hardware test data from the behavioral specification // Proc. EUROMICRO 96, 22nd Euromicro Conference. – September 1996. – P. 337–342.

13. IEEE P1076.6/D1.12, Draft Standard for VHDL Register Transfer Level Synthesis / VHDL Synthesis Interoperability Working Group. – IEEE. – Piscataway, NJ. – March 1998.

14. Золоторевич Л.А., Сидоренко О.М., Юхневич Д.И. Основные возможности базовых средств САПР микроэлектроники VLSI_SIM // Мат. 3-й Междунар. науч.-практ. конф. «Вузовская наука, промышленность, международное сотрудничество». Т.2. – Мн.: Университетское, 2000. – С. 164–170.


Рецензия

Для цитирования:


Золоторевич Л.А. МОДЕЛИРОВАНИЕ НЕИСПРАВНОСТЕЙ СБИС НА ПОВЕДЕНЧЕСКОМ УРОВНЕ НА ЯЗЫКЕ VHDL. Информатика. 2005;(3(7)):135-145.

Просмотров: 516


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)