ПОСТРОЕНИЕ ТЕСТОВ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ НА УРОВНЕ МЕЖРЕГИСТРОВЫХ ПЕРЕДАЧ
Abstract
Дается анализ состояния проблемы контроля сложнофункциональных больших интегральных
схем. Рассматриваются задачи направленного построения тестов контроля на уровне межрегистровых передач (RTL) на языке VHDL. Класс функциональных неисправностей, рассматриваемых при направленном построении теста, соответствует неисправностям константного типа реализаций СБИС.
About the Authors
Л. Золоторевич
Белорусский государственный университет
Belarus
Belarus
А. Ильинкова
Белорусский государственный университет
Belarus
Belarus
References
1. Основы технической диагностики ; под ред. П.П. Пархоменко. – М. : Энергия, 1976. –
2. c.
3. Ibarra, O.H. Polynomially Complete Fault Detection Problems / O.H. Ibarra, S. Sahni // IEEE
4. Transactions on Computers. – 1975. – Vol. C-24, № 3. – P. 242–249.
5. Murray, B.T. Hierarchical Test Generation Using Precomputed Tests for Modules /
6. B.T. Murray, J.P. Hayes // International Test Conference. – Washington, 1988. – P. 221–229.
7. Lee, J. Architectural Level Test Generation for Microprocessors / J. Lee, J.H. Patel // IEEE
8. Trans. CAD. – 1994. – Vol. 13, № 10. – P. 1288–1300.
9. Ubar, R. Fast Test Pattern Generation for Sequential Circuits Using Decision Diagram
10. Representations / R. Ubar // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2000. – Vol. 16, № 3. – P. 213–226.
11. Золоторевич, Л.А. Переключательное квазистатическое моделирование СБИС. Сравнение методов по точности моделей / Л.А. Золоторевич, Д.И. Юхневич // Автоматика и телемеханика. – 1998. – № 9. – С. 130–141.
12. Интеллектуальные системы автоматизированного проектирования БИС и СБИС /
13. В.А. Мищенко [и др.]. – М. : Радио и связь, 1988. – 272 с.
14. Проектирование самотестируемых СБИС : в 2 т. / В.Н. Ярмолик [и др.]. – Минск : БГУИР, 2001. – Т. 2. – 163 с.
15. Ярмолик, В.Н. Проектирование контролепригодных цифровых устройств / А.А. Ива-
16. нюк, В.Н. Ярмолик. – Минск : Бестпринт, 2006. – 296 с.
17. Бибило, П.Н. Оптимизация многоуровневых представлений систем булевых
18. функций на основе диаграмм двоичного выбора / П.Н. Бибило, П.В. Леончик // Шестая
19. Междунар. конф. «Автоматизация проектирования дискретных систем». – Минск, 2007. – C. 162–169.
20. Золоторевич, Л.А. Построение тестов на основе двоичных решающих диаграмм /
21. Л.А. Золоторевич, В.А. Кулинкович // Материалы Пятой Междунар. науч.-техн. конф. «Информационные технологии в промышленности». – Минск, 2008. – С. 105–106.
22. Ubar, R. Test Synthesis with Alternative Graphs / R. Ubar // IEEE Design and Test of
23. Computers. – 1996. – Vol. 13, № 1. – P. 48–57.
24. Jervan, G. Test Cost Minimization for Hybrid BIST / G. Jervan, Z. Peng, R. Ubar //
25. IEEE Int. Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’00). – Japan, 2000. –
26. P. 283–291.
27. Белкин, В.В. Тестовое диагностирование современных микропроцессоров с использованием функциональных моделей / В.В. Белкин // Автоматика и телемеханика. – 2008. – № 8. – С. 139–152.
28. Inoue, M. Test synthesis for datapath using datapath-controller functions / M. Inoue,
29. K. Suzuki, H. Okamoto // Proc. of the 12th Asian Test Symposium (ATS’03). – China, 2003. –
30. P. 294–299.
31. Georgiadis, L. Finding dominators revisited / L. Georgiadis, R.E. Tarjan // Proc. 15th
32. ACM-SIAM Symp. on Discrete Algorithms. – New Orleans, 2004. – P. 862–871.
33. Roth, J.P. Diagnosis of automata failures: a calculus and a method / J.P. Roth // IEEE Trans. on Computers. – 1966. – Vol. 15, № 7. – P. 278–291.
34. Золоторевич, Л.А. Моделирование неисправностей СБИС на поведенческом уровне на языке VHDL / Л.А. Золоторевич // Информатика. – 2005. – № 3 (7). – C. 135–144.
35. Hansen, M.C. High-Level Test Generation using Physically-Induced Faults / M.C. Hansen,
36. J.P. Hayes // Proc. VLSI Test Symposium. – Princeton, NJ, USA, 1995. – P. 20–28.
Review
For citations:
, . Informatics. 2010;(1(25)):112-121. (In Russ.)
Views: 754
Email this article 