Preview

Информатика

Расширенный поиск

ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ НА БАЗЕ МНОГОКРАТНЫХ МАРШЕВЫХ ТЕСТОВ

Полный текст:

Аннотация

Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдоисчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тестов запоминающих устройств с изменяемым начальным состоянием сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки средней, минимальной и максимальной кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек запоминающего устройства. Экспериментально показывается справедливость аналитических оценок и подтверждается возможность псевдоисчерпывающего тестирования запоминающих устройств.

 

Об авторах

В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск
Беларусь
доктор технических наук, профессор


И. Мрозек
Белостокский технический университет, Белосток
Польша
доктор, адъюнкт


В. А. Леванцевич
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск
Беларусь
магистр технических наук, ассистент


Список литературы

1. Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self-Testing / Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31, no. 2. – P. 190–194.

2. Das, D. Exhaustive and Near-Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M. G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. – Vol. 10. − P. 215−229.

3. Ярмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2017. – № 2(54). – С. 58–69.

4. Ярмолик, С. В. Итеративные почти псевдоисчерпывающие вероятностные тесты / С. В. Ярмолик, В. Н. Ярмолик // Информатика. – 2010. – № 2(26). − С. 66−75.

5. Mrozek, I. Method for Generation Multiple Controlled Random Tests / I. Mrozek, V. Yarmolik // Proc. of the Computer Information Systems and Industrial Management (CISIM 2016), 14–16 September 2016. – Vilnius, Lithuania, 2016. – P. 429–440.

6. Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, no. 3. – P. 251–266.

7. Yarmolik, S. V. The Syntheses of Probability Tests with a Small Number of Kits / S. V. Yarmolik, V. N. Yarmolik // Automatic Control and Computer Science. – 2011. − Vol. 45, no. 3. − P. 133−141.

8. Yarmolik, V. N. Address Sequences for Multiple Run March Tests / V. N. Yarmolik, S. V. Yarmolik // Automatic Control and Computer Sciences. – 2006. – No. 5. – С. 59–68.

9. Mrozek, I. Antirandom Test Vectors for Bist in Hardware/Software Systems / I. Mrozek, V. N. Yarmolik // Fundamenta Informaticae. – 2012. – No. 119. – P. 1–23.

10. Ярмолик, C. В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С. В. Ярмолик, В. Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007. – № 4. – С. 126–137.

11. Goor, A. J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A. J. Goor. – Chichester, UK : John Wiley & Sons, 1991. – 536 p.

12. Niggemeyer, D. Integration of Non-classical Faults in Standard March Tests / D. Niggemeyer, M. Redeker, J. Otterstedt // Records of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 24–25 August 1998. – Washington, DC, USA, 1998. – P. 91–98.

13. Mrozek, I. Optimal Backgrounds Selection for Multi Run Memory Testing / I. Mrozek, V. N. Yarmolik // Proc. of the 11th IEEE Workshop on Design and Diagnostic Circuits and Systems (DDECS 2008). – Bratislava, Slovakia, 2008. – P. 1–7.

14. Karpovsky, M. G. Transparent Random Access Memory Testing for Pattern Sensitive Faults / M. G. Karpovsky, V. N. Yarmolik // J. Electron. Testing: Theory and Applications (JETTA). – 1994. – Vol. 5, no. 1. – P. 91–113.

15. Karpovsky, M. G. Transparent Memory Testing for Pattern Sensitive Faults / M. G. Karpovsky, V. N. Yarmolik // Proc. Intern. Test Conf. IEEE Publisher. – Washington, DC, USA, 1994. – P. 860–869.

16. Flajolet, P. Birthday Paradox, Coupon Collectors, Caching Algorithms and Self-Organizing Search / P. Flajolet, D. Gardy, L. Thimonier // Discrete Appl. Math. – 1992. – No. 39. – P. 207–229.


Для цитирования:


Ярмолик В.Н., Мрозек И., Леванцевич В.А. ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ НА БАЗЕ МНОГОКРАТНЫХ МАРШЕВЫХ ТЕСТОВ. Информатика. 2018;15(1):110-121.

For citation:


Yarmolik V.N., Mrozek I., Levantsevich B.A. PSEUDO-EXHAUSTIVE MEMORY DEVICES TESTING BASED ON MULTIPLE MARCH TESTS 1. Informatics. 2018;15(1):110-121. (In Russ.)

Просмотров: 232


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)