Для цитирования:

Ярмолик В.Н., Леванцевич В.А., Деменковец Д.В., Мрозек И. Построение и применение маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств. Информатика. 2021;18(1):25-42. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-25-42

For citation:

Yarmolik V.N., Levantsevich V.A., Demenkovets D.V., Mrozek I. Construction and application of march tests for pattern sensitive memory faults detection. Informatics. 2021;18(1):25-42. (In Russ.) https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-25-42