Preview

Информатика

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Ярмолик В.Н., Леванцевич В.А., Деменковец Д.В., Мрозек И. Построение и применение маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств. Информатика. 2021;18(1):25-42. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-25-42

For citation:


Yarmolik V.N., Levantsevich V.A., Demenkovets D.V., Mrozek I. Construction and application of march tests for pattern sensitive memory faults detection. Informatics. 2021;18(1):25-42. (In Russ.) https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-25-42

Просмотров: 18


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)