Preview

Информатика

Расширенный поиск

ФОРМИРОВАНИЕ АДРЕСНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ С МАКСИМАЛЬНЫМ СРЕДНИМ ХЭММИНГОВЫМ РАССТОЯНИЕМ ДЛЯ МНОГОКРАТНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ОЗУ

Полный текст:

Аннотация

Рассматриваются методы генерирования адресных последовательностей с максимальным средним Хэмминговым расстоянием между последовательными адресами для многократного тестирования оперативных запоминающих устройств. Приводятся результаты экспериментальных исследований, показывающие эффективность применения последовательностей адресов с различными значениями среднего Хэммингова расстояния.

Об авторах

С. В. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. Price, B. Semiconductor Memories. A Handbook of Design, Manufacturing, and Application / B. Price. – Chichester, UK: John Wiley & Sons, 1996.

2. Chakraborty, K. Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memory / K. Chakraborty, P. Mazumder. – USA: Prentice Hall, 2002.

3. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств / В.Н. Ярмолик [и др.]. – Минск: Бестпринт, 2005. – 230 с.

4. Goor, A.J. van de. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A. J. van de Goor. – Chichester, UK: John Wiley & Sons, 1991.

5. Cockburn, B. Tutorial on Semiconductor Memory Testing / B. Cockburn // JETTA. – Vol. 5, № 4. – 1994. – P. 321–336.

6. Ярмолик, C.В. Обнаружение кодочувствительных неисправностей запоминающих

7. устройств с многократным использованием маршевых тестов / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2006. – № 1. – С. 104–129.

8. Nicolaidis, M. Theory of Transparent BIST for RAMs / M. Nicolaidis // IEEE Transaction of Computers. – Vol. 45, № 10. – 1996.

9. Karpovsky, M.G. Transparent Memory Testing for Pattern Sensitive Faults / M.G. Karpovsky, V.N. Yarmolik // IEEE International Test Conference. – US, 1994. – P. 860–869.

10. Занкович, А.П. Неразрушающее тестирование ОЗУ на основе анализа симметрии выходных данных / А.П. Занкович, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2003. – № 9. – С. 141–154.

11. Yarmolik, V.N. Counter sequences for memory test address generation / V.N. Yarmolik, B. Sokol, S.V. Yarmolik // Mixed Design of Integrated Circuits and Systems: proc. 12th International Conference MIXDES 2005. − Krakow, Poland, 2005. − P. 413–418.

12. Yarmolik, V.N. Detection of Pattern Sensitive Faults by Multiple Transparent March Tests / V.N. Yarmolik, I. Mrozek // Mixed Design of Integrated Circuits and Systems: proc. 10th International Conference MIXDES 2003. − Lodz, Poland, 2003. − P. 542–545.

13. Savage, C. A survey of combinatorial Gray codes / C. Savage // SIAM Rev. − № 39. − 1997. − P. 605–629.

14. Gilbert, E.N. Gray codes and paths on the n-cube / E.N. Gilbert // Bell System Tech. − № 37. − 1958. − P. 815–826.


Для цитирования:


Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. ФОРМИРОВАНИЕ АДРЕСНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ С МАКСИМАЛЬНЫМ СРЕДНИМ ХЭММИНГОВЫМ РАССТОЯНИЕМ ДЛЯ МНОГОКРАТНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ОЗУ. Информатика. 2006;(4(12)):88-96.

Просмотров: 153


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)