Preview

Информатика

Расширенный поиск

ОБНАРУЖЕНИЕ КОДОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ С МНОГОКРАТНЫМ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МАРШЕВЫХ ТЕСТОВ

Полный текст:

Аннотация

Рассматривается эффективность применения маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств (ЗУ) и дается оценка их покрывающей способности. Исследуется вопрос о многократном применении маршевых тестов и анализируется влияние изменения начальных адресов ЗУ при повторном применении маршевых тестов для достижения их максимальной эффективности. В заключение приводятся экспериментальные данные, показывающие эффективность многократного применения маршевых тестов.

Об авторах

С. В. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. Goor A.J. van de. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice. – Chichester, UK: John Wiley & Sons, 1991.

2. Karpovsky M.G., Yarmolik V.N. Transparent Memory Testing for Pattern Sensitive Faults // IEEE International Test Conference. – Washington, 1994. – P. 860–869.

3. Karpovsky M.G., Yarmolik V.N., Goor A.J. van de. Pseudo-Exhaustive Word-Oriented DRAM Testing // European Test Conference. – Munich, 1995. – P. 126–132.

4. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. Эффективность многократного применения маршевых тестов для выявления кодочувствительных неисправностей // Известия Белорусской инженерной академии. – 2005. – № 1(91)/1. – С. 79–83.

5. Nicolaidis M. Theory of Transparent BIST for RAMs // IEEE Transaction of Computers. – Vol. 45. – № 10. – 1996.

6. Yarmolik V.N., Sokol B., Yarmolik S.V. Counter sequences for memory test address generation // Proc. 12th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES 2005). – Krakow, 2005. – P. 413–418.

7. Mrozek I., Yarmolik V.N. Detection of Pattern Sensitive Faults by Multiple Transparent March Tests // Proc. 10th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES’03). – Lodz, 2003 – P. 542–545.

8. Niggemeyer D., Otterstedt J., Redeker M. Detection of Non-classical Memory Faults using Degrees of Freedom in March Testing // Rec. 11th Workshop «Testmethods and Reliability of Circuits and Systems». – Potsdam, 1999.


Для цитирования:


Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. ОБНАРУЖЕНИЕ КОДОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ С МНОГОКРАТНЫМ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МАРШЕВЫХ ТЕСТОВ. Информатика. 2006;(1(9)):104-113.

For citation:


., . . Informatics. 2006;(1(9)):104-113. (In Russ.)

Просмотров: 23


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)