АНАЛИЗ КОЛИЧЕСТВЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК РАЗЛИЧИЯ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ ОЗУ
Аннотация
Анализируются численные характеристики подобия и различия, применяемые для сравнения двоичных и многозначных векторов, которые используются при многократном тестировании оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Показывается, что оценкой, позволяющей формировать эффективные начальные состояния ОЗУ при многократном их тестировании, являются характеристики различия двоичных векторов Rogers-Tanmoto и Sokal-Michener. Выбор адресных последовательностей для обеспечения высокой эффективности тестирования ОЗУ осуществляется на основе расстояния Минковского.
Об авторах
С. В. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
А. Н. Курбацкий
Белорусский государственный университет
Беларусь
Беларусь
В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Кулямин, В.В. Комбинаторика слов и построение тестовых последовательностей / В.В. Кулямин // Труды ИСП РАН. 2004. № 8(1). – С. 2540.
2. Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – UK, Chi¬chester: John Wiley & Sons, 1991. – 487 с.
3. Chakraborty, K. Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memory / K. Chakraborty, P. Mazumder. – Prentice Hall, 2002. – 424 p.
4. Hartman, A. Problems and Algorithms for Covering Arrays / A. Hartman, L. Raskin // Discrete Mathematics. – 2004. № 284. – P. 149156.
5. Cockburn, B. Tutorial on Semiconductor Memory Testing / B. Cockburn // JETTA. 1994. Vol. 5, № 4 P. 321336.
6. Hayes, J.P. Testing memories for single cell pattern sensitive fault / J.P. Hayes // IEEE Trans. on Computers. – 1980. Vol. 29, № 2. – P. 249–254.
7. Franklin, M. Testing reconfigured RAM’s and scrambled address RAM’s for pattern sensitive faults / M. Franklin, K.K. Saluja // IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits. – 1996. – Vol. 15, № 9. – P. 1081–1087.
8. Nicolaidis, M. Theory of transparent BIST for RAMs / M. Nicolaidis // IEEE Trans. on Computers. – 1996. – Vol. 45, № 10. – P. 1141–1156.
9. Karpovsky, M.G. Pseudo-Exhaustive Word-Oriented DRAM Testing / M.G. Karpovsky, V.N. Yarmolik, A.J. Goor // Proc. EUROTEST Conference. Munchen, Germany, 1995.
10. P. 126132.
11. Yarmolik, S.V. Memory Address Generation for Multiple Run March Tests with Different Average Hamming Distance / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Proc. of IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW’06). Sochi, Russia, 2006. P. 212216.
12. Yarmolik, S.V. Optimal Memory Address Seeds for Pattern Sensitive Faults Detection / S.V. Yarmolik, B. Sokol // Proc. of IEEE Workshop on Design и Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’2006). Prague, Czech Republic, 2006. P. 220221.
13. Yarmolik, S.V. Multi background memory testing / S.V. Yarmolik, I. Mrozek // Proc. of the 14th International Conference Mixed design of integrated circuits and systems (MIXDES’07). Ciechocinek, Poland, 2007. P. 511–516.
14. Tubbs, J.D. Note on binary template matching / J.D. Tubbs // Pattern Recognition. – 1989. Vol. 22, № 4. P. 359356.
15. Zhang, B. Binary vector dissimilarities for handwriting identification / B. Zhang, S.N. Srihari // Proc. SPIE, Document Recognition и retrieval X. Santa Clara, California, USA, 2003. –
16. P. 155166.
17. Мак-Вильямс, Ф.Д. Теория кодов, исправляющих ошибки / Ф.Дж. Мак-Вильямс, Н.Дж. Слоэн; пер. с англ. М.: Связь, 1979. 744 с.
18. Ярмолик, В.Н. Многократные неразрушающие тесты с изменяемыми адресными последовательностями / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007. № 4. С. 126–137.
19. Linear Time Euclidean Distance Transform Algorithms / H. Breu [et al.] // IEEE Trans. on Pattern Analysis and Machine Intelligence. – 1995. Vol. 1, № 5. P. 529533.
20. Thompson, A.C. Minkowski Geometry / A.C. Thompson. Cambridge, N.-Y., 1996. – 364 p.
Рецензия
Для цитирования:
Ярмолик С.В., Курбацкий А.Н., Ярмолик В.Н. АНАЛИЗ КОЛИЧЕСТВЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК РАЗЛИЧИЯ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ ОЗУ. Информатика. 2008;(3(19)):90-98.
Просмотров: 511
Послать статью по эл. почте 