Preview

Информатика

Расширенный поиск

АНАЛИЗ КОЛИЧЕСТВЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК РАЗЛИЧИЯ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ ОЗУ

Полный текст:

Аннотация

Анализируются численные характеристики подобия и различия, применяемые для сравнения двоичных и многозначных векторов, которые используются при многократном тестировании оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Показывается, что оценкой, позволяющей формировать эффективные начальные состояния ОЗУ при многократном их тестировании, являются характеристики различия двоичных векторов Rogers-Tanmoto и Sokal-Michener. Выбор адресных последовательностей для обеспечения высокой эффективности тестирования ОЗУ  осуществляется на основе расстояния Минковского.

Об авторах

С. В. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


А. Н. Курбацкий
Белорусский государственный университет
Беларусь


В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. Кулямин, В.В. Комбинаторика слов и построение тестовых последовательностей / В.В. Кулямин // Труды ИСП РАН.  2004.  № 8(1). – С. 2540.

2. Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – UK, Chi¬chester: John Wiley & Sons, 1991. – 487 с.

3. Chakraborty, K. Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memory / K. Chakraborty, P. Mazumder. – Prentice Hall, 2002. – 424 p.

4. Hartman, A. Problems and Algorithms for Covering Arrays / A. Hartman, L. Raskin // Discrete Mathematics. – 2004.  № 284. – P. 149156.

5. Cockburn, B. Tutorial on Semiconductor Memory Testing / B. Cockburn // JETTA.  1994.  Vol. 5, № 4  P. 321336.

6. Hayes, J.P. Testing memories for single cell pattern sensitive fault / J.P. Hayes // IEEE Trans. on Computers. – 1980.  Vol. 29, № 2. – P. 249–254.

7. Franklin, M. Testing reconfigured RAM’s and scrambled address RAM’s for pattern sensitive faults / M. Franklin, K.K. Saluja // IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits. – 1996. – Vol. 15, № 9. – P. 1081–1087.

8. Nicolaidis, M. Theory of transparent BIST for RAMs / M. Nicolaidis // IEEE Trans. on Computers. – 1996. – Vol. 45, № 10. – P. 1141–1156.

9. Karpovsky, M.G. Pseudo-Exhaustive Word-Oriented DRAM Testing / M.G. Karpovsky, V.N. Yarmolik, A.J. Goor // Proc. EUROTEST Conference.  Munchen, Germany, 1995. 

10. P. 126132.

11. Yarmolik, S.V. Memory Address Generation for Multiple Run March Tests with Different Average Hamming Distance / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Proc. of IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW’06).  Sochi, Russia, 2006.  P. 212216.

12. Yarmolik, S.V. Optimal Memory Address Seeds for Pattern Sensitive Faults Detection / S.V. Yarmolik, B. Sokol // Proc. of IEEE Workshop on Design и Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’2006).  Prague, Czech Republic, 2006.  P. 220221.

13. Yarmolik, S.V. Multi background memory testing / S.V. Yarmolik, I. Mrozek // Proc. of the 14th International Conference Mixed design of integrated circuits and systems (MIXDES’07).  Ciechocinek, Poland, 2007.  P. 511–516.

14. Tubbs, J.D. Note on binary template matching / J.D. Tubbs // Pattern Recognition. – 1989.  Vol. 22, № 4.  P. 359356.

15. Zhang, B. Binary vector dissimilarities for handwriting identification / B. Zhang, S.N. Srihari // Proc. SPIE, Document Recognition и retrieval X.  Santa Clara, California, USA, 2003. –

16. P. 155166.

17. Мак-Вильямс, Ф.Д. Теория кодов, исправляющих ошибки / Ф.Дж. Мак-Вильямс, Н.Дж. Слоэн; пер. с англ.  М.: Связь, 1979.  744 с.

18. Ярмолик, В.Н. Многократные неразрушающие тесты с изменяемыми адресными последовательностями / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007.  № 4.  С. 126–137.

19. Linear Time Euclidean Distance Transform Algorithms / H. Breu [et al.] // IEEE Trans. on Pattern Analysis and Machine Intelligence. – 1995.  Vol. 1, № 5.  P. 529533.

20. Thompson, A.C. Minkowski Geometry / A.C. Thompson.  Cambridge, N.-Y., 1996. – 364 p.


Для цитирования:


Ярмолик С.В., Курбацкий А.Н., Ярмолик В.Н. АНАЛИЗ КОЛИЧЕСТВЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК РАЗЛИЧИЯ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ ОЗУ. Информатика. 2008;(3(19)):90-98.

Просмотров: 134


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)