1. Сигаев, А. Операционные системы для встраиваемых применений / А. Сигаев. - М.: Компоненты и технологии, 2000. - 168 с.
2. Cockburn, B. Tutorial on Semiconductor Memory Testing / B. Cockburn // JETTA. - 1994. - Vol. 5, № 4. - P. 321-336.
3. Goor, A.G. Memory Tests and Their Fault Coverage into a New Perspective, Resulting into a New Test / A.G. Goor // Proc. of SEMICON/Korea’s Semiconductor Technical Symposium on Test Technology. - Seoul, Korea, 1996. - P. 67-75.
4. Проектирование самотестируемых СБИС: научное издание. В 2 т. / В.Н. Ярмолик
5. [и др.] - Минск: БГУИР, 2001. - Т. 2. - 163 c.
6. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств / В.Н. Ярмолик [и др.]. - Минск: Бестпринт, 2005. - 230 с.
7. Van de Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice / A.J. van de Goor. - New York: John Wiley & Sons, 1991. - 512 p.
8. Van de Goor, A.J. Opens and Delay Faults in CMOS RAM Address Decoders / A.J. van de Goor // IEEE Transactions on Computers. - 2006. - Vol. 55, № 11. - P. 1630-1639.
9. Stroud, E.A. Designer’s Guide to Built-In Self-Test / E.A. Stroud. - Kluwer Academic Publishers, 2002. - 344 p.
10. Ma, S.A Comparison of Bridging Fault Simulation Methods / S. Ma, I. Shaik, R. Fetherston // Proc. IEEE International Test Conf. - Atlantic City, USA, 1999. - P. 587-595.
11. Garbolino, T. Detection, Localization and Identification of Interconnection Faults Using MISR Compactor / T. Garbolino, M. Kopec, K. Gucwa // Proc. of the 9th IEEE Workshop on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2006). - Prague, Czech Republic, 2006. - P. 230-231.
12. Иванюк, А.А. Определение тестовых наборов для обнаружения мостиковых неисправностей / А.А. Иванюк // Известия Национальной академии наук Беларуси. Сер. физ.-тех. наук. - 2006. - № 5. - С. 38-40.
Послать статью по эл. почте 