Preview

Информатика

Расширенный поиск

УПРАВЛЯЕМОЕ СЛУЧАЙНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ

Полный текст:

Аннотация

Анализируются управляемые случайные тесты и методы их генерирования. Показывается
общность процедур генерирования тестовых векторов управляемых случайных тестов, использующих жадный оптимизационный алгоритм и метрики расстояния между тестовыми наборами. Предлагается метод построения оптимальных управляемых случайных тестов, характеризующихся максимальной полнотой покрытия в сравнении со случайными и управляемыми случайными тестами в силу максимального отличия тестовых наборов. Оптимальные управляемые случайные тесты характеризуются минимальной вычислительной сложностью их генерирования.

Об авторах

С. В. Ярмолик

Россия


В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. Grindal, M. Combination Testing Strategies / M. Grindal, J. Offutt, S.F. Andler // GMU

2. Technical Report ISE-TR-04-05. – George Mason University, USA, 2004. – 32 p.

3. Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // Proc. of

4. ITC. – Las Vegas, USA, 1984. – P. 237–242.

5. Seth, S. A statistical theory of digital circuits testability / S. Seth, V. Agrawal, H. Farhat //

6. IEEE Transactions on Computers. – 1990. – Vol. C-39, № 4. – P. 582–586.

7. Malaiya, Y.K. An examination of fault exposure ratio / Y.K. Malaiya, A. Mayrhauser,

8. P.K. Srimani // IEEE Transactions on Software Engineering. – 1993. – Vol. 19, № 11. – P. 1087–1094.

9. Malaiya, Y.K. Antirandom Testing: Getting the most out of Back-Box Testing /

10. Y.K. Malaiya, S. Yang // Proc. of Sixth Intern. Symposium on Software Reliability Engineering. – Toulouse, France, 1995. – P. 86–95.

11. Antirandom Testing: A Distance-Based Approach / S.H. Wu [et al.] // VLSI Design. – 2008. –

12. № 2. – P. 1–9.

13. Wu, S.Y. Antirandom vs. Pseudorandom Testing / S.H. Wu, Y.K. Malaiya, A.P. Jayasumana //

14. Proc. of IEEE Intern. Conf. on Computer Design (ICCD'98). – Austin, Texas, USA, 1998. – P. 221–223.

15. Fast Antirandom (FAR) Test Generation / A. Mayrhause [et al.] // Proc. of the Third IEEE Intern. High-Assurance System Engineering Symposium. – Washington, D.C., USA, 1998. – P. 262–269.

16. Chen, T.Y. Adaptive Random Testing / T.Y. Chen, H. Leung, I.K. Mak // Proc. of the 9th

17. Asian Computer Science Conf. (ASIAN 2004). – Chiang Mai, Thailand, 2004. – P. 320–329.

18. Zhou, Z.Q. Using Coverage Information to Guide Test Case Selection in Adaptive Random

19. Testing / Z.Q. Zhou // Proc. of the 34th IEEE Computer Software and Applications Conf. Workshops. – Seoul, South Korea, 2010. – P. 208–213.

20. Adaptive Random Test Case Prioritization / B. Jiang [et al.] // Proc. of the IEEE/ACM Intern. Conf. on Automated Software Engineering. – Auckland, New Zealand, 2009. – P. 233–244.

21. Tappenden, A.F. A Novel Evolutionary Approach for Adaptive Random Testing / A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Transaction on reliability. – 2009. – Vol. 58, № 4. – P. 619–632.

22. Chan, K.P. Good Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey // Proc. of the 9th Ada-

23. Europe Intern. Conf. on Reliable Software Technologies (LNCS). – Palma de Mallorca, Spain, 2004. – P. 200–212.

24. Chan, K.P. Normalized Restricted Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey //

25. Proc. of the 8th Ada-Europe Intern. Conf. on Reliable Software Technologies (LNCS). – Toulouse, France, 2003. – P. 368–381.

26. Chan, K.P. Restricted Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey // Proc. of the

27. th European Conf. on Software Quality. – Helsinki, Finland, 2002. – P. 321–330.

28. Kuo, F.C. An in-depth study of mirror adaptive random testing / F.C. Kuo // Proc. of the 14th European Conf. on Software Quality. – Kaiserslautern, Germany, 2009. – P. 51–58.

29. Shiyi, Xu. Orderly Random Testing for Both Hardware and Software / Xu Shiyi // Proc. of Pacific Rim Intern. Symposium on Dependable Computing. – Gold Coast, Australia, 2008. – P. 160–167.

30. Shiyi, Xu. Maximum Distance Testing / Xu Shiyi, Chen Jianwen // Proc. of the 11-th IEEE

31. Asian Test Symposium (ATS’02). – Los Alamitos, CA, USA, 2002. – P. 15–20.

32. Hamming, W.R. Error Detecting and Error Correcting Codes / W.R. Hamming // Bell System Tech. Journal. – 1950. – Vol. 26, № 2. – P. 147–160.

33. Das, D. Exhaustive and Near–Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. – 1997. – Vol. 10. – P. 215–229.

34. Knuth, D.E. The Art of Computer Programming. Vol. 3: Sorting and Searching. /

35. D.E. Knuth. – 2nd ed. – Massachusetts : Addison-Wesley, 1998. – 730 p.


Для цитирования:


Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. УПРАВЛЯЕМОЕ СЛУЧАЙНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ. Информатика. 2011;(1(29)):79-88.

Просмотров: 157


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1816-0301 (Print)
ISSN 2617-6963 (Online)