МОДЕЛИРОВАНИЕ НЕИСПРАВНОСТЕЙ В СТРУКТУРАХ СБИС НА ЯЗЫКЕ VHDL
Abstract
Рассматривается проблема моделирования неисправностей СБИС и устройств цифровой электроники, представленных на структурном уровне на языке VHDL. Дается анализ эффективности предлагаемых решений.
References
1. Hayek Al., Robach G. On the adequacy of deriving hardware test data from the behavioral specification // Proc. EUROMICRO 96, 22nd euromicro conference. 1996. P. 337–342.
2. Zolotorevitch L.A., Baturitsky M.A. Deduktive switch-level CMOS-VLSI fault simulation // The International conference computer-aided design of diskrete devices (CAD DD’95). V. 2. Minsk-Szczecin, 1995. P. 157–164.
3. Armstrong D. A deductive method for simulating faults in logic circuits // IEEE trans. comput. – 1972. C-21, 5.
4. Золоторевич Л.А., Сидоренко О.М., Юхневич Д.И. Формализация и оптимизация анализа полноты теста СБИС на уровне автоматных моделей компонентов // Мат. Междунар. конф. «Автоматизация проектирования дискретных систем (CAD-DD’97)». Т. 3. Мн.: Ин-т техн. кибернетики НАН Беларуси, 1997. С. 104–110.
5. Золоторевич Л.А., Сидоренко О.М., Юхневич Д.И. Компьютерная инженерия в электронике: программная система для проектирования и обучения // Мат. Междунар. науч.-практ. конф. «Образовательные технологии в подготовке специалистов». Мн., 2003. С. 23–28.
6. Jenn E., Arlat J., Rimen M. Fault injection into VHDL models: The MEFISTO tool // Proc. 24th symp. on fault tolerant comp. (FTCS-24). Austin, Texas, USA, 1994. P. 66–75.
7. Sieh V., Tschache O., Balbach F. VERIFY: evaluation of reliability using VHDL-models with embedded fault descriptions // Proc. 27th Int. symp. on fault-tolerant comp. (FTCS-27). Chicago, 1997. P. 32–36.
8. Goswami K.K., Iyer R.K. A simulation-based study of a triple modular redundant system using DEPEND // Proc. of the 5th Int. conference on fault-tolerant computing systems. Paris, 1991. P. 300–311.
Review
For citations:
. Informatics. 2005;(1(5)):89-94. (In Russ.)
Views: 444
Email this article 