УПРАВЛЯЕМОЕ СЛУЧАЙНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ
Abstract
Анализируются управляемые случайные тесты и методы их генерирования. Показывается
общность процедур генерирования тестовых векторов управляемых случайных тестов, использующих жадный оптимизационный алгоритм и метрики расстояния между тестовыми наборами. Предлагается метод построения оптимальных управляемых случайных тестов, характеризующихся максимальной полнотой покрытия в сравнении со случайными и управляемыми случайными тестами в силу максимального отличия тестовых наборов. Оптимальные управляемые случайные тесты характеризуются минимальной вычислительной сложностью их генерирования.
About the Authors
С. ЯрмоликRussian Federation
В. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Belarus
Belarus
References
1. Grindal, M. Combination Testing Strategies / M. Grindal, J. Offutt, S.F. Andler // GMU
2. Technical Report ISE-TR-04-05. – George Mason University, USA, 2004. – 32 p.
3. Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // Proc. of
4. ITC. – Las Vegas, USA, 1984. – P. 237–242.
5. Seth, S. A statistical theory of digital circuits testability / S. Seth, V. Agrawal, H. Farhat //
6. IEEE Transactions on Computers. – 1990. – Vol. C-39, № 4. – P. 582–586.
7. Malaiya, Y.K. An examination of fault exposure ratio / Y.K. Malaiya, A. Mayrhauser,
8. P.K. Srimani // IEEE Transactions on Software Engineering. – 1993. – Vol. 19, № 11. – P. 1087–1094.
9. Malaiya, Y.K. Antirandom Testing: Getting the most out of Back-Box Testing /
10. Y.K. Malaiya, S. Yang // Proc. of Sixth Intern. Symposium on Software Reliability Engineering. – Toulouse, France, 1995. – P. 86–95.
11. Antirandom Testing: A Distance-Based Approach / S.H. Wu [et al.] // VLSI Design. – 2008. –
12. № 2. – P. 1–9.
13. Wu, S.Y. Antirandom vs. Pseudorandom Testing / S.H. Wu, Y.K. Malaiya, A.P. Jayasumana //
14. Proc. of IEEE Intern. Conf. on Computer Design (ICCD'98). – Austin, Texas, USA, 1998. – P. 221–223.
15. Fast Antirandom (FAR) Test Generation / A. Mayrhause [et al.] // Proc. of the Third IEEE Intern. High-Assurance System Engineering Symposium. – Washington, D.C., USA, 1998. – P. 262–269.
16. Chen, T.Y. Adaptive Random Testing / T.Y. Chen, H. Leung, I.K. Mak // Proc. of the 9th
17. Asian Computer Science Conf. (ASIAN 2004). – Chiang Mai, Thailand, 2004. – P. 320–329.
18. Zhou, Z.Q. Using Coverage Information to Guide Test Case Selection in Adaptive Random
19. Testing / Z.Q. Zhou // Proc. of the 34th IEEE Computer Software and Applications Conf. Workshops. – Seoul, South Korea, 2010. – P. 208–213.
20. Adaptive Random Test Case Prioritization / B. Jiang [et al.] // Proc. of the IEEE/ACM Intern. Conf. on Automated Software Engineering. – Auckland, New Zealand, 2009. – P. 233–244.
21. Tappenden, A.F. A Novel Evolutionary Approach for Adaptive Random Testing / A.F. Tappenden, J. Miller // IEEE Transaction on reliability. – 2009. – Vol. 58, № 4. – P. 619–632.
22. Chan, K.P. Good Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey // Proc. of the 9th Ada-
23. Europe Intern. Conf. on Reliable Software Technologies (LNCS). – Palma de Mallorca, Spain, 2004. – P. 200–212.
24. Chan, K.P. Normalized Restricted Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey //
25. Proc. of the 8th Ada-Europe Intern. Conf. on Reliable Software Technologies (LNCS). – Toulouse, France, 2003. – P. 368–381.
26. Chan, K.P. Restricted Random Testing / K.P. Chan, T.Y. Chen, D. Towey // Proc. of the
27. th European Conf. on Software Quality. – Helsinki, Finland, 2002. – P. 321–330.
28. Kuo, F.C. An in-depth study of mirror adaptive random testing / F.C. Kuo // Proc. of the 14th European Conf. on Software Quality. – Kaiserslautern, Germany, 2009. – P. 51–58.
29. Shiyi, Xu. Orderly Random Testing for Both Hardware and Software / Xu Shiyi // Proc. of Pacific Rim Intern. Symposium on Dependable Computing. – Gold Coast, Australia, 2008. – P. 160–167.
30. Shiyi, Xu. Maximum Distance Testing / Xu Shiyi, Chen Jianwen // Proc. of the 11-th IEEE
31. Asian Test Symposium (ATS’02). – Los Alamitos, CA, USA, 2002. – P. 15–20.
32. Hamming, W.R. Error Detecting and Error Correcting Codes / W.R. Hamming // Bell System Tech. Journal. – 1950. – Vol. 26, № 2. – P. 147–160.
33. Das, D. Exhaustive and Near–Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. – 1997. – Vol. 10. – P. 215–229.
34. Knuth, D.E. The Art of Computer Programming. Vol. 3: Sorting and Searching. /
35. D.E. Knuth. – 2nd ed. – Massachusetts : Addison-Wesley, 1998. – 730 p.
Review
For citations:
, . Informatics. 2011;(1(29)):79-88. (In Russ.)
Views: 631
Email this article 