1. Иванюк, А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем / А.А. Иванюк. - Минск : Бестпринт, 2012. - 338 с.
2. Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. - 2013. - № 3 (39). - С. 92-103.
3. Semiconductor Intellectual Property: Continuing on the Path to Growth. ASIC IP report. Semico Research Corp. - Seville, Spain, 2007. - 100 p.
4. Yarmolik, V.N. Generating Modified Sobol Sequences for Multiple Run March Memory Tests / V.N. Yarmolik, S.V. Yarmolik // Automatic Control and Computer Sciences. - 2013. - Vol. 47, № 5. - P. 242-247.
5. VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability / L.T. Wang [et al.]. - San Francisco : Morgan Kaufmann Publishers is an imprint of Elsevier, 2006. - 808 p.
6. Sharma, A.K. Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability / A.K. Shar-ma. - London : John Wiley & Sons, 2002. - 480 р.
7. Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для тестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. - Минск : Издательский центр БГУ, 2009. - 270 с.
8. Sharma, A.K. Advanced Semiconductor Memories: Architectures, Designs, and Applica-tions / A.K. Sharma. - London : John Wiley & Sons, 2003. - 652 р.
9. Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. - UK, Chichester : John & Sons, 1991. - 536 p.
10. Nicolaidis, M. Theory of Transparent BIST for RAMs / M. Nicolaidis // IEEE Transaction on Computers. - 1996. - Vol. 45, № 10. - P. 1141-1156.
11. Yarmolik, S.V. Address sequences and backgrounds with different Hamming distance for multiple run March tests / S.V. Yarmolik // IEEE Int. J. Appl. Comput. Sci. 2008. Vol. 18, № 3. P. 329339.
12. Ярмолик, С.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми ад-ресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. - 2007. - № 4. - С. 126-137.
13. Ярмолик, В.Н. Адресные последовательности для многократных маршевых тестов / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик // Автоматика и вычислительная техника. - 2006. - № 5. - С. 59-68.
14. Halton, J.H. On the efficiency of certain quasi-random sequences of points in evaluating mul-ti-dimensional integrals / J.H. Halton // Numerische Mathematics. - 1960. - Vol. 2, № 1. - P. 84-90.
15. Niederreiter, H. Point sets and sequences with small discrepancy / H. Niederreiter // Monatshefte fur Mathematik. - 1987. - Vol. 104, № 4. - P. 273-337.
16. Chi, H. Computational investigations of quasi-random sequences in generating test cases for specification-based tests / H. Chi, E.I. Jones // Proc. of the 38 Winter Conference, ser. WSC’06. Win-ter Simulation Conf. Monterey. - CA, USA, 2006. - P. 975-980.
17. Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. - М. : Знание, 1985. - 32 с.
18. Ярмолик, С.В. Анализ количественных характеристик различия при тестировании ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.Н. Курбацкий, В.Н. Ярмолик // Информатика. - 2008. № 3(19). С. 9098.
19. Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Transaction on Reliabi-lity. - 2007. - Vol. 56, № 3. - P. 562-568.
20. Joe, S. Constructing Sobol sequences with better two-dimensional projections / S. Joe, F. Kuo // SIAM J. Sci. Comput. - 2008. - № 30. - P. 2635-2654.
21. Антонов, И.А. Экономичный способ вычисления ЛПτ-последовательностей / И.А. Анто-нов, В.М. Салеев // Журн. вычисл. матем. и матем. физ. - 1979. - Т. 19, № 1. - С. 243-245.
22. Savage, C. A survey of combinatorial Gray code / С. Savage // SIAM Review. - 1997. - Vol. 39, № 4. - P. 605-629.
23. Yarmolik, S.V. Modified Gray and Counter Sequences for memory test address generation / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Proc. 13th Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Sys-tems (MIXDES’06). - Gdynia, Poland : Technical University of Lodz, 2006. - P. 572-576.
24. Thompson, A.C. Minkowski Geometry / A.C. Thompson. - N.Y. : Cambridge U.P., 1996. - 364 p.
25. Tubbs, J.D. A note on binary template matching / J.D. Tubbs // Pattern Recogn. - 1989. - Vol. 22, № 4. - P. 359-366.
Послать статью по эл. почте 