ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ОЗУ

Полный текст:


Аннотация

Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числе
оперативных запоминающих устройств (ОЗУ), обосновывается применение псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдоисчерпывающего теста для заданного количества запоминающих ячеек ОЗУ. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ, что подтверждает возможность формирования псевдоисчерпывающего теста для заданного числа ячеек ОЗУ.

Об авторах

В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


И. Мрозек
Белостокский технический университет
Польша


В. А. Леванцевич
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Россия


Список литературы

1. An Orchestrated Survey on Automated Software Test Case Generation / S. Anand [et al.] ;A. Bertolino, J. Jenny, L. Zhu, H. Zhu (ed.) // Journal of Systems and Software. – 2014. – Vol. C–39,no. 4. – P. 582–586.

2. Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self–Testing /Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31,no. 2. – P. 190–194.

3. Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // In Proc.of Intern. Test Conference (ITC 1984). – Philadelphia, PA, USA, 1984. – P. 237–242.

4. Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Автоматика и телемеханика. – 2012. – № 10. – C. 142–155.

5. Furuya, K. A probabilistic approach to locally exhaustive testing / K. Furuya // IEEE Transactions on IEICE. – 1989. – Vol. E72, no. 5. – P. 656–660.

6. Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, no. 3. – P. 251–266.

7. Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Информатика. – 2011. – № 1(29). – C. 79–88.

8. Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик,В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3(39). – С. 92–103.

9. Mrozek, I. Multiple Controlled Random Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Fundamenta Informaticae. – 2016. – Vol. 144, no. 1. – P. 23–43.

10. Das, D. Exhaustive and Near–Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. – Vol. 10. −P. 215−229.

11. Segall, I. Using binary decision diagrams for combinatorial test design / I. Segall, R. Tzoref-Brill, E. Farchi // Proc. of the Intern. Symp. on Software Testing and Analysis (ISSTA’11). – Toronto, Canada, 2011. − P. 254–264.

12. Yarmolik, S.V. The Syntheses of Probability Tests with a Small Number of Kits / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Automatic Control and Computer Science. – 2011. − Vol. 45, no. 3. − P. 133−141.

13. Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Trans. on Reliability. − 2007. – Vol. 56, no. 3. – P. 562–568.

14. Ярмолик, C.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. –2007. – № 4. – С. 126–137.

15. Mrozek, I. Method for Generation Multiple Controlled Random Tests / I. Mrozek, V. Yarmolik // Proc. of the Computer Information Systems and Industrial Management (CISIM 2016). – Vilnius : Springer International Publisher, 2016. – P. 429–440.

16. Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – Chichester, UK : John Wiley & Sons, 1991. – 536 p.

17. Niggemeyer, D. Integration of Non-classical Faults in Standard March Tests / D. Niggemeyer, M. Redeker, J. Otterstedt // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT’98). – Washington, USA, 1998. – P. 91–98.

18. Choinski, T.C. Generation of Digit Reversed Address Sequences for Fast FourierTransforms /T.C. Choinski, T.T. Tylaska // IEEE Transactions on Computers. – 1991. – Vol. 40, no. 6. – P. 780–784.

19. Wang, W.L. A Complete Memory Address Generator for Scan Based March Algorithms /W.L. Wang, K.J. Lee // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT’05). – Taipei, Taiwan, 2005. – Р. 83–88.

20. Flajolet, P. Birthday paradox, coupon collectors, caching algorithms and self-organizing search / P. Flajolet, D. Gardy, L. Thimonier // Discrete Appl. Math. – 1992. – No. 39. – P. 207–229.


Дополнительные файлы

Для цитирования: Ярмолик В.Н., Мрозек И., Леванцевич В.А. ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ОЗУ. Информатика. 2017;(2(54)):58-69.

For citation: Yarmolik V.N., Mrozek I., Levantsevich B.A. PSEUDOEXHAUSTIVE RAM TESTING. Informatics. 2017;(2(54)):58-69. (In Russ.)

Просмотров: 63

Обратные ссылки

  • Обратные ссылки не определены.


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.

ISSN 1816-0301 (Print)