АДРЕСНЫЕ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ МНОГОКРАТНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ОЗУ
Аннотация
Предлагается универсальный метод генерирования адресных последовательностей с задан-ными свойствами для многократных маршевых тестов оперативных запоминающих устройств. В качестве математической модели используется модификация экономичного способа Антонова и Салеева для формирования последовательностей Соболя. В рамках предлагаемой модели последова-тельности Соболя являются подмножеством адресных последовательностей, наряду с которыми формируются последовательности кода Грея, анти-Грея, пересчетные и ряд других последователь-ностей, в том числе последовательности с заданными свойствами.
Об авторах
В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
С. В. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Иванюк, А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем / А.А. Иванюк. – Минск : Бестпринт, 2012. – 338 с.
2. Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3 (39). – С. 92–103.
3. Semiconductor Intellectual Property: Continuing on the Path to Growth. ASIC IP report. Semico Research Corp. – Seville, Spain, 2007. – 100 p.
4. Yarmolik, V.N. Generating Modified Sobol Sequences for Multiple Run March Memory Tests / V.N. Yarmolik, S.V. Yarmolik // Automatic Control and Computer Sciences. – 2013. – Vol. 47, № 5. – P. 242–247.
5. VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability / L.T. Wang [et al.]. – San Francisco : Morgan Kaufmann Publishers is an imprint of Elsevier, 2006. – 808 p.
6. Sharma, A.K. Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability / A.K. Shar-ma. – London : John Wiley & Sons, 2002. – 480 р.
7. Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для тестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. – Минск : Издательский центр БГУ, 2009. – 270 с.
8. Sharma, A.K. Advanced Semiconductor Memories: Architectures, Designs, and Applica-tions / A.K. Sharma. – London : John Wiley & Sons, 2003. – 652 р.
9. Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – UK, Chichester : John & Sons, 1991. – 536 p.
10. Nicolaidis, M. Theory of Transparent BIST for RAMs / M. Nicolaidis // IEEE Transaction on Computers. – 1996. – Vol. 45, № 10. – P. 1141–1156.
11. Yarmolik, S.V. Address sequences and backgrounds with different Hamming distance for multiple run March tests / S.V. Yarmolik // IEEE Int. J. Appl. Comput. Sci. 2008. Vol. 18, № 3. P. 329339.
12. Ярмолик, С.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми ад-ресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007. – № 4. – С. 126–137.
13. Ярмолик, В.Н. Адресные последовательности для многократных маршевых тестов / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик // Автоматика и вычислительная техника. – 2006. – № 5. – С. 59–68.
14. Halton, J.H. On the efficiency of certain quasi-random sequences of points in evaluating mul-ti-dimensional integrals / J.H. Halton // Numerische Mathematics. – 1960. – Vol. 2, № 1. – P. 84–90.
15. Niederreiter, H. Point sets and sequences with small discrepancy / H. Niederreiter // Monatshefte fur Mathematik. – 1987. – Vol. 104, № 4. – P. 273–337.
16. Chi, H. Computational investigations of quasi-random sequences in generating test cases for specification-based tests / H. Chi, E.I. Jones // Proc. of the 38 Winter Conference, ser. WSC’06. Win-ter Simulation Conf. Monterey. – CA, USA, 2006. – P. 975–980.
17. Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. – М. : Знание, 1985. – 32 с.
18. Ярмолик, С.В. Анализ количественных характеристик различия при тестировании ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.Н. Курбацкий, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2008. № 3(19). С. 9098.
19. Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Transaction on Reliabi-lity. – 2007. – Vol. 56, № 3. – P. 562–568.
20. Joe, S. Constructing Sobol sequences with better two-dimensional projections / S. Joe, F. Kuo // SIAM J. Sci. Comput. – 2008. – № 30. – P. 2635–2654.
21. Антонов, И.А. Экономичный способ вычисления ЛПτ-последовательностей / И.А. Анто-нов, В.М. Салеев // Журн. вычисл. матем. и матем. физ. – 1979. – Т. 19, № 1. – С. 243–245.
22. Savage, C. A survey of combinatorial Gray code / С. Savage // SIAM Review. – 1997. – Vol. 39, № 4. – P. 605–629.
23. Yarmolik, S.V. Modified Gray and Counter Sequences for memory test address generation / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Proc. 13th Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Sys-tems (MIXDES’06). – Gdynia, Poland : Technical University of Lodz, 2006. – P. 572–576.
24. Thompson, A.C. Minkowski Geometry / A.C. Thompson. – N.Y. : Cambridge U.P., 1996. – 364 p.
25. Tubbs, J.D. A note on binary template matching / J.D. Tubbs // Pattern Recogn. – 1989. – Vol. 22, № 4. – P. 359–366.
Рецензия
Для цитирования:
Ярмолик В.Н., Ярмолик С.В. АДРЕСНЫЕ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ МНОГОКРАТНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ОЗУ. Информатика. 2014;(2):124-136.
For citation:
Yarmolik V.N., Yarmolik S.V. ADDRESS SEQUENCES FOR MULTI RUN RAM TESTING. Informatics. 2014;(2):124-136. (In Russ.)
Просмотров: 1172
Послать статью по эл. почте 