informИнформатикаInformatics1816-03012617-6963UIIP NASBinform-679Research ArticleЛОГИЧЕСКОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕLOGICAL DESIGNОБНАРУЖЕНИЕ КОДОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ С МНОГОКРАТНЫМ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МАРШЕВЫХ ТЕСТОВЯрмоликС. В.ЯрмоликВ. Н.Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus20060712201801(9)104113Copyright © Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н., 20182018Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://inf.grid.by/jour/article/view/679

Рассматривается эффективность применения маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств (ЗУ) и дается оценка их покрывающей способности. Исследуется вопрос о многократном применении маршевых тестов и анализируется влияние изменения начальных адресов ЗУ при повторном применении маршевых тестов для достижения их максимальной эффективности. В заключение приводятся экспериментальные данные, показывающие эффективность многократного применения маршевых тестов.

ReferencesGoor A.J. van de. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice. – Chichester, UK: John Wiley & Sons, 1991.Goor A.J. van de. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice. – Chichester, UK: John Wiley & Sons, 1991.Karpovsky M.G., Yarmolik V.N. Transparent Memory Testing for Pattern Sensitive Faults // IEEE International Test Conference. – Washington, 1994. – P. 860–869.Karpovsky M.G., Yarmolik V.N. Transparent Memory Testing for Pattern Sensitive Faults // IEEE International Test Conference. – Washington, 1994. – P. 860–869.Karpovsky M.G., Yarmolik V.N., Goor A.J. van de. Pseudo-Exhaustive Word-Oriented DRAM Testing // European Test Conference. – Munich, 1995. – P. 126–132.Karpovsky M.G., Yarmolik V.N., Goor A.J. van de. Pseudo-Exhaustive Word-Oriented DRAM Testing // European Test Conference. – Munich, 1995. – P. 126–132.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. Эффективность многократного применения маршевых тестов для выявления кодочувствительных неисправностей // Известия Белорусской инженерной академии. – 2005. – № 1(91)/1. – С. 79–83.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. Эффективность многократного применения маршевых тестов для выявления кодочувствительных неисправностей // Известия Белорусской инженерной академии. – 2005. – № 1(91)/1. – С. 79–83.Nicolaidis M. Theory of Transparent BIST for RAMs // IEEE Transaction of Computers. – Vol. 45. – № 10. – 1996.Nicolaidis M. Theory of Transparent BIST for RAMs // IEEE Transaction of Computers. – Vol. 45. – № 10. – 1996.Yarmolik V.N., Sokol B., Yarmolik S.V. Counter sequences for memory test address generation // Proc. 12th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES 2005). – Krakow, 2005. – P. 413–418.Yarmolik V.N., Sokol B., Yarmolik S.V. Counter sequences for memory test address generation // Proc. 12th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES 2005). – Krakow, 2005. – P. 413–418.Mrozek I., Yarmolik V.N. Detection of Pattern Sensitive Faults by Multiple Transparent March Tests // Proc. 10th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES’03). – Lodz, 2003 – P. 542–545.Mrozek I., Yarmolik V.N. Detection of Pattern Sensitive Faults by Multiple Transparent March Tests // Proc. 10th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES’03). – Lodz, 2003 – P. 542–545.Niggemeyer D., Otterstedt J., Redeker M. Detection of Non-classical Memory Faults using Degrees of Freedom in March Testing // Rec. 11th Workshop «Testmethods and Reliability of Circuits and Systems». – Potsdam, 1999.Niggemeyer D., Otterstedt J., Redeker M. Detection of Non-classical Memory Faults using Degrees of Freedom in March Testing // Rec. 11th Workshop «Testmethods and Reliability of Circuits and Systems». – Potsdam, 1999.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.