informИнформатикаInformatics1816-03012617-6963UIIP NASBinform-610Research ArticleЛОГИЧЕСКОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕLOGICAL DESIGNМЕТОДИКА ПРОЕКТИРОВАНИЯ БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩЕГО ГЕНЕРАТОРА ПСЕВДОСЛУЧАЙНОЙ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ МАКСИМАЛЬНОЙ ДЛИНЫМурашкоИ. А.Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus20071311201801(13)4045Copyright © Мурашко И.А., 20182018Мурашко И.А.Мурашко И.А.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://inf.grid.by/jour/article/view/610

Предлагается новый подход к синтезу генератора псевдослучайных тестовых последовательностей, который позволяет формировать на одном генераторе псевдослучайные последовательности с различной частотой. Основная идея подхода заключается в выборке нескольких символов М-последова­тельности в течение одного такта синхронизации. Это позволяет проводить параллельное тестирование на рабочих частотах функциональных модулей с различным быстродействием.

ReferencesRajsuman, R. System-on-a-Chip. Design and Test / R. Rajsuman. – Santa Clara: Advantest America R&D Center, Inc., 2000. – 294 p.Rajsuman, R. System-on-a-Chip. Design and Test / R. Rajsuman. – Santa Clara: Advantest America R&D Center, Inc., 2000. – 294 p.High-Frequency, At-Speed Scan Testing / X. Lin [et al.] // IEEE Design & Test of Computers. – September-October 2003. – P. 17–25.High-Frequency, At-Speed Scan Testing / X. Lin [et al.] // IEEE Design & Test of Computers. – September-October 2003. – P. 17–25.Bardell, P.H. Built-in self-test for VLSI: pseudorandom techniques / P.H. Bardell, W. McAnney, J. Savir. – New York: John Wiley and Sons, 1987. – 354 p.Bardell, P.H. Built-in self-test for VLSI: pseudorandom techniques / P.H. Bardell, W. McAnney, J. Savir. – New York: John Wiley and Sons, 1987. – 354 p.Мурашко, И.А. Анализ фазовых сдвигов М-последовательности, формируемой с удвоенной частотой / И.А. Мурашко // Доклады БГУИР. – 2005. – № 4 (12). – C. 93–95.Мурашко, И.А. Анализ фазовых сдвигов М-последовательности, формируемой с удвоенной частотой / И.А. Мурашко // Доклады БГУИР. – 2005. – № 4 (12). – C. 93–95.Ярмолик, В.Н. Методика проектирования генератора тестовых воздействий, осно-ванного на свойстве децимации М-последовательности / В.Н. Ярмолик, И.А. Мурашко // Автоматика и вычислительная техника. – 1997. – № 1. – С. 44–56.Ярмолик, В.Н. Методика проектирования генератора тестовых воздействий, осно-ванного на свойстве децимации М-последовательности / В.Н. Ярмолик, И.А. Мурашко // Автоматика и вычислительная техника. – 1997. – № 1. – С. 44–56.Golomb, S.W. Shift Register Sequences / S.W. Golomb. – San-Francisko: Holden Day, 1967. – 188 p.Golomb, S.W. Shift Register Sequences / S.W. Golomb. – San-Francisko: Holden Day, 1967. – 188 p.Мурашко, И.А. Методы минимизации энергопотребления при самотестировании цифровых устройств / И.А. Мурашко, В.Н. Ярмолик. – Минск: Бестпринт, 2004. – 188 с.Мурашко, И.А. Методы минимизации энергопотребления при самотестировании цифровых устройств / И.А. Мурашко, В.Н. Ярмолик. – Минск: Бестпринт, 2004. – 188 с.Мурашко, И.А. Быстродействующий генератор псевдослучайных тестовых наборов / И.А. Мурашко, В.Н. Ярмолик // Микроэлектроника. – 2001. – Т. 30, № 1. – С. 68–76.Мурашко, И.А. Быстродействующий генератор псевдослучайных тестовых наборов / И.А. Мурашко, В.Н. Ярмолик // Микроэлектроника. – 2001. – Т. 30, № 1. – С. 68–76.Chamzas, C.C. Parasitic Spectral Lines in High Speed Generation of Binary Maximum Length Sequences / С.С. Chamzas // IEEE Trans. On Communication. – 1978. – Vol. COM-26, № 6. – P. 922–925.Chamzas, C.C. Parasitic Spectral Lines in High Speed Generation of Binary Maximum Length Sequences / С.С. Chamzas // IEEE Trans. On Communication. – 1978. – Vol. COM-26, № 6. – P. 922–925.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.