informИнформатикаInformatics1816-03012617-6963UIIP NASBinform-437Research ArticleМАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕMATHEMATICAL MODELINGИТЕРАТИВНЫЕ ПОЧТИ ПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩИЕ ВЕРОЯТНОСТНЫЕ ТЕСТЫЯрмоликС. В.ЯрмоликВ. Н.Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus20100806201802(26)6675Copyright © Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н., 20182018Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://inf.grid.by/jour/article/view/437

Предлагается метод построения почти псевдоисчерпывающих вероятностных тестов, характеризующихся большей полнотой покрытия в сравнении с вероятностными и детерминированными тестами при такой же их временной сложности. Данные тесты позволяют генерировать всевозможные двоичные комбинации на любых k из N входов тестируемого цифрового устройства. Показывается их эффективность для малых значений k и небольшого числа итераций. Приводятся экспериментальные исследования для случая тестирования ОЗУ.

ReferencesTang, D.T. Exhaustive Test Pattern Generation with Constant Weight Vectors / D.T. Tang,Tang, D.T. Exhaustive Test Pattern Generation with Constant Weight Vectors / D.T. Tang,L.S. Woo // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–32, № 12. – P. 1145–1150.L.S. Woo // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–32, № 12. – P. 1145–1150.Tang, D.T. Iterative Exhaustive Pattern Generation for Logic Testing / D.T. Tang, C.L. Chen // IBM Journal Res. Develop. – 1984. – Vol. 28, № 2. – P. 212–219.Tang, D.T. Iterative Exhaustive Pattern Generation for Logic Testing / D.T. Tang, C.L. Chen // IBM Journal Res. Develop. – 1984. – Vol. 28, № 2. – P. 212–219.Karpovsky, M.G. Pseudo-Exhaustive Word-Oriented DRAM Testing / M.G. Karpovsky,Karpovsky, M.G. Pseudo-Exhaustive Word-Oriented DRAM Testing / M.G. Karpovsky,V.N. Yarmolik, A.J. Goor // EUROTEST Conference : proc. Int. Conf., Paris, France, 6–9 March 1995 / IEEE Computer Society. – Washington, USA, 1995. – P. 126–132.V.N. Yarmolik, A.J. Goor // EUROTEST Conference : proc. Int. Conf., Paris, France, 6–9 March 1995 / IEEE Computer Society. – Washington, USA, 1995. – P. 126–132.Levitin, L.B. Efficient Exhaustive Test Based on MDS Codes // L.B. Levitin,Levitin, L.B. Efficient Exhaustive Test Based on MDS Codes // L.B. Levitin,M.G. Karpovsky // IEEE Int. Symposium on Information Theory : proc. Int. Conf. / IEEE Computer Society. – Ann Arbor, USA, 1986. – P. 64.M.G. Karpovsky // IEEE Int. Symposium on Information Theory : proc. Int. Conf. / IEEE Computer Society. – Ann Arbor, USA, 1986. – P. 64.Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self-Testing /Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self-Testing /Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31, № 2. – P. 190–194.Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31, № 2. – P. 190–194.Karpovsky, M.G. Transparent Memory BIST / M.G. Karpovsky, V.N. Yarmolik // IEEEKarpovsky, M.G. Transparent Memory BIST / M.G. Karpovsky, V.N. Yarmolik // IEEEWorkshop on Memory Technology Design and Testing : proc. Int. Conf., San Jose, CA, USA,Workshop on Memory Technology Design and Testing : proc. Int. Conf., San Jose, CA, USA,–9 August 1994 / IEEE Computer Society. – San Jose, USA, 1994. – P. 106–111.–9 August 1994 / IEEE Computer Society. – San Jose, USA, 1994. – P. 106–111.Grindal, M. Combination Testing Strategies / M. Grindal, J. Offutt, S.F. Andler // GMUGrindal, M. Combination Testing Strategies / M. Grindal, J. Offutt, S.F. Andler // GMUTechnical Report ISE-TR-04-05. – July, 2004. – 32 p.Technical Report ISE-TR-04-05. – July, 2004. – 32 p.Кулямин, В.В. Комбинаторика слов и построение тестовых последовательностей /Кулямин, В.В. Комбинаторика слов и построение тестовых последовательностей /В.В. Кулямин // Труды ИСП РАН. − 2004. − № 8 (1). – С. 25−40.В.В. Кулямин // Труды ИСП РАН. − 2004. − № 8 (1). – С. 25−40.Hartman, A. Problems and Algorithms for Covering Arrays / A. Hartman, L. Raskin // Discrete Mathematics. – 2004. − № 284. – P. 149−156.Hartman, A. Problems and Algorithms for Covering Arrays / A. Hartman, L. Raskin // Discrete Mathematics. – 2004. − № 284. – P. 149−156.Yarmolik, S.V. Multi-Background Memory Testing / S.V. Yarmolik, I. Mrozek // MixedYarmolik, S.V. Multi-Background Memory Testing / S.V. Yarmolik, I. Mrozek // MixedDesign of Integrated Circuits and Systems (MIXDES’07) : proc. of the 14th Int. Conf., Ciechocinek, Poland, 21–23 June 2007 / Technical University of Lodz. – Ciechocinek, Poland, 2007. – P. 511–516.Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES’07) : proc. of the 14th Int. Conf., Ciechocinek, Poland, 21–23 June 2007 / Technical University of Lodz. – Ciechocinek, Poland, 2007. – P. 511–516.Yarmolik, S.V. Optimal Memory Address Seeds for Pattern Sensitive Faults Detection /Yarmolik, S.V. Optimal Memory Address Seeds for Pattern Sensitive Faults Detection /S.V. Yarmolik, B. Sokol // IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’2006) : proc. Int. Conf., Prague, Czech Republic, 18–21 April 2006 / Czech Technical University Publishing House. – Prague, Czech Republic, 2006 – P. 220–221.S.V. Yarmolik, B. Sokol // IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS’2006) : proc. Int. Conf., Prague, Czech Republic, 18–21 April 2006 / Czech Technical University Publishing House. – Prague, Czech Republic, 2006 – P. 220–221.Das, D. Exhaustive and Near-Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. – 1997. – Vol. 10. – P. 215–229.Das, D. Exhaustive and Near-Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. – 1997. – Vol. 10. – P. 215–229.Курбацкий, А.Н. Анализ эффективности многократных маршевых тестов запоминающиx устройств / А.Н. Курбацкий, С.В. Ярмолик // Весн. Гродн. дзярж. ун-та імя Я. Купалы. Cер. 2. Матэматыка. Фізіка. Інфарматыка, вылічальная тэхніка і кіраванне. Біялогія. – 2008. – № 2 (68). – С. 103–107.Курбацкий, А.Н. Анализ эффективности многократных маршевых тестов запоминающиx устройств / А.Н. Курбацкий, С.В. Ярмолик // Весн. Гродн. дзярж. ун-та імя Я. Купалы. Cер. 2. Матэматыка. Фізіка. Інфарматыка, вылічальная тэхніка і кіраванне. Біялогія. – 2008. – № 2 (68). – С. 103–107.Adams, R.D. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling andAdams, R.D. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling andSelf-Test / R.D. Adams. – N.Y. : Kluwer Academic Publishers, 2003. – 247 p.Self-Test / R.D. Adams. – N.Y. : Kluwer Academic Publishers, 2003. – 247 p.Неразрушающее тестирование запоминающих устройств / В.Н. Ярмолик [и др.]. –Неразрушающее тестирование запоминающих устройств / В.Н. Ярмолик [и др.]. –Минск : Бестпринт, 2005. – 230 с.Минск : Бестпринт, 2005. – 230 с.Mrozek, I. Problemu Funkcjonalnego Testowania Pamieci RAM / I. Mrozek, V. Yarmolik. –Mrozek, I. Problemu Funkcjonalnego Testowania Pamieci RAM / I. Mrozek, V. Yarmolik. –Bialystok : Oficyna Wydawnicza Politechniki Bialostockiej, 2009. – 264 str.Bialystok : Oficyna Wydawnicza Politechniki Bialostockiej, 2009. – 264 str.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.