informИнформатикаInformatics1816-03012617-6963UIIP NASBinform-212Research ArticleАВТОМАТИЗАЦИЯ ПРОЕКТИРОВАНИЯCOMPUTER AIDED DESIGNПСЕВДОИСЧЕРПЫВАЮЩЕЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ОЗУPSEUDOEXHAUSTIVE RAM TESTINGЯрмоликВ. Н.YarmolikV. N.yarmolik10ru@yahoo.comМрозекИ.MrozekI.i.mrozek@pb.edu.plЛеванцевичВ. А.LevantsevichB. A.lvn@bsuir.byБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarusБелостокский технический университетPoland20171506201702(54)5869Copyright © Ярмолик В.Н., Мрозек И., Леванцевич В.А., 20172017Ярмолик В.Н., Мрозек И., Леванцевич В.А.Yarmolik V.N., Mrozek I., Levantsevich B.A.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://inf.grid.by/jour/article/view/212

Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числеоперативных запоминающих устройств (ОЗУ), обосновывается применение псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдоисчерпывающего теста для заданного количества запоминающих ячеек ОЗУ. Показывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями сводится к комбинаторной задаче собирателя купонов. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ, что подтверждает возможность формирования псевдоисчерпывающего теста для заданного числа ячеек ОЗУ.

Modern RAM tests and methods for their generation are analyzed and investigated. The wide application of pseudoexhaustive tests as the main test procedure for modern computer systems has been proved. The main estimates and metrics for so kind of tests are obtained. The values of analytical estimates have been validated by the experimental investigations.

ReferencesAn Orchestrated Survey on Automated Software Test Case Generation / S. Anand [et al.] ;A. Bertolino, J. Jenny, L. Zhu, H. Zhu (ed.) // Journal of Systems and Software. – 2014. – Vol. C–39,no. 4. – P. 582–586.An Orchestrated Survey on Automated Software Test Case Generation / S. Anand [et al.] ;A. Bertolino, J. Jenny, L. Zhu, H. Zhu (ed.) // Journal of Systems and Software. – 2014. – Vol. C–39,no. 4. – P. 582–586.Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self–Testing /Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31,no. 2. – P. 190–194.Barzilai, Z. Exhaustive Generation of Bit Pattern with Application to VLSI Self–Testing /Z. Barzilai, D. Coppersmith, A. Rozenberg // IEEE Transactions on Computers. – 1983. – Vol. C–31,no. 2. – P. 190–194.Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // In Proc.of Intern. Test Conference (ITC 1984). – Philadelphia, PA, USA, 1984. – P. 237–242.Malaiya, Y.K. The coverage problem for random testing / Y.K. Malaiya, S. Yang // In Proc.of Intern. Test Conference (ITC 1984). – Philadelphia, PA, USA, 1984. – P. 237–242.Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Автоматика и телемеханика. – 2012. – № 10. – C. 142–155.Ярмолик, С.В. Управляемые вероятностные тесты / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Автоматика и телемеханика. – 2012. – № 10. – C. 142–155.Furuya, K. A probabilistic approach to locally exhaustive testing / K. Furuya // IEEE Transactions on IEICE. – 1989. – Vol. E72, no. 5. – P. 656–660.Furuya, K. A probabilistic approach to locally exhaustive testing / K. Furuya // IEEE Transactions on IEICE. – 1989. – Vol. E72, no. 5. – P. 656–660.Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, no. 3. – P. 251–266.Mrozek, I. Iterative Antirandom Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). – 2012. – Vol. 9, no. 3. – P. 251–266.Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Информатика. – 2011. – № 1(29). – C. 79–88.Ярмолик, С.В. Управляемое случайное тестирование / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик //Информатика. – 2011. – № 1(29). – C. 79–88.Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик,В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3(39). – С. 92–103.Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик,В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3(39). – С. 92–103.Mrozek, I. Multiple Controlled Random Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Fundamenta Informaticae. – 2016. – Vol. 144, no. 1. – P. 23–43.Mrozek, I. Multiple Controlled Random Testing / I. Mrozek, V. Yarmolik // Fundamenta Informaticae. – 2016. – Vol. 144, no. 1. – P. 23–43.Das, D. Exhaustive and Near–Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. – Vol. 10. −P. 215−229.Das, D. Exhaustive and Near–Exhaustive Memory Testing Techniques and their BIST Implementations / D. Das, M.G. Karpovsky // Journal of Electronic Testing. − 1997. – Vol. 10. −P. 215−229.Segall, I. Using binary decision diagrams for combinatorial test design / I. Segall, R. Tzoref-Brill, E. Farchi // Proc. of the Intern. Symp. on Software Testing and Analysis (ISSTA’11). – Toronto, Canada, 2011. − P. 254–264.Segall, I. Using binary decision diagrams for combinatorial test design / I. Segall, R. Tzoref-Brill, E. Farchi // Proc. of the Intern. Symp. on Software Testing and Analysis (ISSTA’11). – Toronto, Canada, 2011. − P. 254–264.Yarmolik, S.V. The Syntheses of Probability Tests with a Small Number of Kits / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Automatic Control and Computer Science. – 2011. − Vol. 45, no. 3. − P. 133−141.Yarmolik, S.V. The Syntheses of Probability Tests with a Small Number of Kits / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Automatic Control and Computer Science. – 2011. − Vol. 45, no. 3. − P. 133−141.Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Trans. on Reliability. − 2007. – Vol. 56, no. 3. – P. 562–568.Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Trans. on Reliability. − 2007. – Vol. 56, no. 3. – P. 562–568.Ярмолик, C.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. –2007. – № 4. – С. 126–137.Ярмолик, C.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми адресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. –2007. – № 4. – С. 126–137.Mrozek, I. Method for Generation Multiple Controlled Random Tests / I. Mrozek, V. Yarmolik // Proc. of the Computer Information Systems and Industrial Management (CISIM 2016). – Vilnius : Springer International Publisher, 2016. – P. 429–440.Mrozek, I. Method for Generation Multiple Controlled Random Tests / I. Mrozek, V. Yarmolik // Proc. of the Computer Information Systems and Industrial Management (CISIM 2016). – Vilnius : Springer International Publisher, 2016. – P. 429–440.Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – Chichester, UK : John Wiley & Sons, 1991. – 536 p.Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – Chichester, UK : John Wiley & Sons, 1991. – 536 p.Niggemeyer, D. Integration of Non-classical Faults in Standard March Tests / D. Niggemeyer, M. Redeker, J. Otterstedt // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT’98). – Washington, USA, 1998. – P. 91–98.Niggemeyer, D. Integration of Non-classical Faults in Standard March Tests / D. Niggemeyer, M. Redeker, J. Otterstedt // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT’98). – Washington, USA, 1998. – P. 91–98.Choinski, T.C. Generation of Digit Reversed Address Sequences for Fast FourierTransforms /T.C. Choinski, T.T. Tylaska // IEEE Transactions on Computers. – 1991. – Vol. 40, no. 6. – P. 780–784.Choinski, T.C. Generation of Digit Reversed Address Sequences for Fast FourierTransforms /T.C. Choinski, T.T. Tylaska // IEEE Transactions on Computers. – 1991. – Vol. 40, no. 6. – P. 780–784.Wang, W.L. A Complete Memory Address Generator for Scan Based March Algorithms /W.L. Wang, K.J. Lee // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT’05). – Taipei, Taiwan, 2005. – Р. 83–88.Wang, W.L. A Complete Memory Address Generator for Scan Based March Algorithms /W.L. Wang, K.J. Lee // Proc. of the IEEE Intern. Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (MTDT’05). – Taipei, Taiwan, 2005. – Р. 83–88.Flajolet, P. Birthday paradox, coupon collectors, caching algorithms and self-organizing search / P. Flajolet, D. Gardy, L. Thimonier // Discrete Appl. Math. – 1992. – No. 39. – P. 207–229.Flajolet, P. Birthday paradox, coupon collectors, caching algorithms and self-organizing search / P. Flajolet, D. Gardy, L. Thimonier // Discrete Appl. Math. – 1992. – No. 39. – P. 207–229.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.