informИнформатикаInformatics1816-03012617-6963UIIP NASBinform-141Research ArticleЛОГИЧЕСКОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕLOGICAL DESIGNАДРЕСНЫЕ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ДЛЯ МНОГОКРАТНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ ОЗУADDRESS SEQUENCES FOR MULTI RUN RAM TESTINGЯрмоликВ. Н.YarmolikV. N.yarmolik10ru@yahoo.comЯрмоликС. В.YarmolikS. V.yarmolik@cosmostv.byБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus20140410201602124136Copyright © Ярмолик В.Н., Ярмолик С.В., 20162016Ярмолик В.Н., Ярмолик С.В.Yarmolik V.N., Yarmolik S.V.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://inf.grid.by/jour/article/view/141

Предлагается универсальный метод генерирования адресных последовательностей с задан-ными свойствами для многократных маршевых тестов оперативных запоминающих устройств. В качестве математической модели используется модификация экономичного способа Антонова и Салеева для формирования последовательностей Соболя. В рамках предлагаемой модели последова-тельности Соболя являются подмножеством адресных последовательностей, наряду с которыми формируются последовательности кода Грея, анти-Грея, пересчетные и ряд других последователь-ностей, в том числе последовательности с заданными свойствами.

A universal approach for generation of address sequences with specified properties is proposed and analyzed. A modified version of the Antonov and Saleev algorithm for Sobol sequences genera-tion is chosen as a mathematical description of the proposed method. Within the framework of the proposed universal approach, the Sobol sequences form a subset of the address sequences. Other sub-sets are also formed, which are Gray sequences, anti-Gray sequences, counter sequences and sequenc-es with specified properties.

ReferencesИванюк, А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем / А.А. Иванюк. – Минск : Бестпринт, 2012. – 338 с.Иванюк, А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем / А.А. Иванюк. – Минск : Бестпринт, 2012. – 338 с.Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3 (39). – С. 92–103.Ярмолик, С.В. Квазислучайное тестирование вычислительных систем / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2013. – № 3 (39). – С. 92–103.Semiconductor Intellectual Property: Continuing on the Path to Growth. ASIC IP report. Semico Research Corp. – Seville, Spain, 2007. – 100 p.Semiconductor Intellectual Property: Continuing on the Path to Growth. ASIC IP report. Semico Research Corp. – Seville, Spain, 2007. – 100 p.Yarmolik, V.N. Generating Modified Sobol Sequences for Multiple Run March Memory Tests / V.N. Yarmolik, S.V. Yarmolik // Automatic Control and Computer Sciences. – 2013. – Vol. 47, № 5. – P. 242–247.Yarmolik, V.N. Generating Modified Sobol Sequences for Multiple Run March Memory Tests / V.N. Yarmolik, S.V. Yarmolik // Automatic Control and Computer Sciences. – 2013. – Vol. 47, № 5. – P. 242–247.VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability / L.T. Wang [et al.]. – San Francisco : Morgan Kaufmann Publishers is an imprint of Elsevier, 2006. – 808 p.VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability / L.T. Wang [et al.]. – San Francisco : Morgan Kaufmann Publishers is an imprint of Elsevier, 2006. – 808 p.Sharma, A.K. Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability / A.K. Shar-ma. – London : John Wiley & Sons, 2002. – 480 р.Sharma, A.K. Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability / A.K. Shar-ma. – London : John Wiley & Sons, 2002. – 480 р.Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для тестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. – Минск : Издательский центр БГУ, 2009. – 270 с.Ярмолик, С.В. Маршевые тесты для тестирования ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.П. Занкович, А.А. Иванюк. – Минск : Издательский центр БГУ, 2009. – 270 с.Sharma, A.K. Advanced Semiconductor Memories: Architectures, Designs, and Applica-tions / A.K. Sharma. – London : John Wiley & Sons, 2003. – 652 р.Sharma, A.K. Advanced Semiconductor Memories: Architectures, Designs, and Applica-tions / A.K. Sharma. – London : John Wiley & Sons, 2003. – 652 р.Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – UK, Chichester : John & Sons, 1991. – 536 p.Goor, A.J. Testing Semiconductor Memories, Theory and Practice / A.J. Goor. – UK, Chichester : John & Sons, 1991. – 536 p.Nicolaidis, M. Theory of Transparent BIST for RAMs / M. Nicolaidis // IEEE Transaction on Computers. – 1996. – Vol. 45, № 10. – P. 1141–1156.Nicolaidis, M. Theory of Transparent BIST for RAMs / M. Nicolaidis // IEEE Transaction on Computers. – 1996. – Vol. 45, № 10. – P. 1141–1156.Yarmolik, S.V. Address sequences and backgrounds with different Hamming distance for multiple run March tests / S.V. Yarmolik // IEEE Int. J. Appl. Comput. Sci.  2008.  Vol. 18, № 3.  P. 329339.Yarmolik, S.V. Address sequences and backgrounds with different Hamming distance for multiple run March tests / S.V. Yarmolik // IEEE Int. J. Appl. Comput. Sci.  2008.  Vol. 18, № 3.  P. 329339.Ярмолик, С.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми ад-ресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007. – № 4. – С. 126–137.Ярмолик, С.В. Многократные неразрушающие маршевые тесты с изменяемыми ад-ресными последовательностями / С.В. Ярмолик, В.Н. Ярмолик // Автоматика и телемеханика. – 2007. – № 4. – С. 126–137.Ярмолик, В.Н. Адресные последовательности для многократных маршевых тестов / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик // Автоматика и вычислительная техника. – 2006. – № 5. – С. 59–68.Ярмолик, В.Н. Адресные последовательности для многократных маршевых тестов / В.Н. Ярмолик, С.В. Ярмолик // Автоматика и вычислительная техника. – 2006. – № 5. – С. 59–68.Halton, J.H. On the efficiency of certain quasi-random sequences of points in evaluating mul-ti-dimensional integrals / J.H. Halton // Numerische Mathematics. – 1960. – Vol. 2, № 1. – P. 84–90.Halton, J.H. On the efficiency of certain quasi-random sequences of points in evaluating mul-ti-dimensional integrals / J.H. Halton // Numerische Mathematics. – 1960. – Vol. 2, № 1. – P. 84–90.Niederreiter, H. Point sets and sequences with small discrepancy / H. Niederreiter // Monatshefte fur Mathematik. – 1987. – Vol. 104, № 4. – P. 273–337.Niederreiter, H. Point sets and sequences with small discrepancy / H. Niederreiter // Monatshefte fur Mathematik. – 1987. – Vol. 104, № 4. – P. 273–337.Chi, H. Computational investigations of quasi-random sequences in generating test cases for specification-based tests / H. Chi, E.I. Jones // Proc. of the 38 Winter Conference, ser. WSC’06. Win-ter Simulation Conf. Monterey. – CA, USA, 2006. – P. 975–980.Chi, H. Computational investigations of quasi-random sequences in generating test cases for specification-based tests / H. Chi, E.I. Jones // Proc. of the 38 Winter Conference, ser. WSC’06. Win-ter Simulation Conf. Monterey. – CA, USA, 2006. – P. 975–980.Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. – М. : Знание, 1985. – 32 с.Соболь, И.М. Точки, равномерно заполняющие многомерный куб / И.М. Соболь. – М. : Знание, 1985. – 32 с.Ярмолик, С.В. Анализ количественных характеристик различия при тестировании ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.Н. Курбацкий, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2008.  № 3(19).  С. 9098.Ярмолик, С.В. Анализ количественных характеристик различия при тестировании ОЗУ / С.В. Ярмолик, А.Н. Курбацкий, В.Н. Ярмолик // Информатика. – 2008.  № 3(19).  С. 9098.Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Transaction on Reliabi-lity. – 2007. – Vol. 56, № 3. – P. 562–568.Chen, T.Y. Quasi-Random Testing / T.Y. Chen, R. Merkel // IEEE Transaction on Reliabi-lity. – 2007. – Vol. 56, № 3. – P. 562–568.Joe, S. Constructing Sobol sequences with better two-dimensional projections / S. Joe, F. Kuo // SIAM J. Sci. Comput. – 2008. – № 30. – P. 2635–2654.Joe, S. Constructing Sobol sequences with better two-dimensional projections / S. Joe, F. Kuo // SIAM J. Sci. Comput. – 2008. – № 30. – P. 2635–2654.Антонов, И.А. Экономичный способ вычисления ЛПτ-последовательностей / И.А. Анто-нов, В.М. Салеев // Журн. вычисл. матем. и матем. физ. – 1979. – Т. 19, № 1. – С. 243–245.Антонов, И.А. Экономичный способ вычисления ЛПτ-последовательностей / И.А. Анто-нов, В.М. Салеев // Журн. вычисл. матем. и матем. физ. – 1979. – Т. 19, № 1. – С. 243–245.Savage, C. A survey of combinatorial Gray code / С. Savage // SIAM Review. – 1997. – Vol. 39, № 4. – P. 605–629.Savage, C. A survey of combinatorial Gray code / С. Savage // SIAM Review. – 1997. – Vol. 39, № 4. – P. 605–629.Yarmolik, S.V. Modified Gray and Counter Sequences for memory test address generation / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Proc. 13th Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Sys-tems (MIXDES’06). – Gdynia, Poland : Technical University of Lodz, 2006. – P. 572–576.Yarmolik, S.V. Modified Gray and Counter Sequences for memory test address generation / S.V. Yarmolik, V.N. Yarmolik // Proc. 13th Int. Conf. Mixed Design of Integrated Circuits and Sys-tems (MIXDES’06). – Gdynia, Poland : Technical University of Lodz, 2006. – P. 572–576.Thompson, A.C. Minkowski Geometry / A.C. Thompson. – N.Y. : Cambridge U.P., 1996. – 364 p.Thompson, A.C. Minkowski Geometry / A.C. Thompson. – N.Y. : Cambridge U.P., 1996. – 364 p.Tubbs, J.D. A note on binary template matching / J.D. Tubbs // Pattern Recogn. – 1989. – Vol. 22, № 4. – P. 359–366.Tubbs, J.D. A note on binary template matching / J.D. Tubbs // Pattern Recogn. – 1989. – Vol. 22, № 4. – P. 359–366.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.